Plano ng pagsubok ng ISO/IEC 10373-6:2025 (Edition 5) ― ano ang nagbago
Ang ISO/IEC 10373-6 ay pamantayang nagtatakda ng natatanging paraan ng pagsubok para sa proximity card at proximity object, proximity coupling device (PCD), at proximity extension device na tinutukoy sa ISO/IEC 14443. Mula sa edisyong 2020 patungo sa edisyong 2025 (Edition 5) ay may mahahalagang pagbabagong idinagdag.
Mahahalagang punto ng pagbabago
- Isinama ang Amendment 2 (paglawak para sa harmonisasyon)
- Pinagtibay ang pagbawi sa Amendment 1 (pamamahala ng dinamikong antas ng kuryente)
- Idinagdag ang tahasang paraan ng pagsubok sa pagtanggap ng RFU
- Iwinasto ang paraan ng pagsubok sa pagpapadala ng PICC
- Pinasimple ang impedance matching circuit
- Iba't ibang pagwawasto sa plano ng conformance test
Layunin ng rebisyong ito
Ang layunin ng ikalimang edisyon ay ang teknikal na muling pagsusuri sa naunang edisyon. Sa partikular, isinama nito ang Amendment 2 (paglawak para sa harmonisasyon) at pinagtibay ang pagbawi sa Amendment 1 (pamamahala ng dinamikong antas ng kuryente / Dynamic power level management).
Pangunahing pagbabago
Ang pangunahing pagbabago ay ang mga sumusunod: pagdaragdag ng tahasang paraan ng pagsubok sa pagtanggap ng RFU (explicit RFU reception test methods), pagwawasto sa paraan ng pagsubok sa pagpapadala ng PICC (PICC transmission test methods), pagpapasimple ng impedance matching circuit (impedance matching networks), at iba't ibang pagwawasto sa plano ng conformance test.
Saklaw ng dokumentong ito
Binubuod ng dokumentong ito ang mga pagbabagong iyon mula sa tatlong pananaw: ① kagamitan sa pagsubok (test equipment), ② test case ng PICC (Analog / Digital), at ③ test case ng PCD (Analog / Digital).
Tungkol sa paraan ng pagsulat
Ang bahaging nagbago ay isinusulat sa pormat na “ANNEX.SECTION – TITLE”. Halimbawa: ang “G.5.3 – Handling of PICC error detection” ay tumutukoy sa seksyong G.5.3 sa Annex G ng ISO/IEC 10373-6:2025.