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运营 · UAT 与回归

B2 8-Digit BIN Test Card Set

用于确认 8 位 BIN 支持情况的 8 张测试卡套装。在支付应用、主机、路由与 BIN 数据库各层,验证是否仍存在以 6 位 BIN 为前提的实现。

厂商 B2 标准 EMV · 8-Digit BIN 测试卡

要解决的验证课题

以往有大量实现将前 6 位视为 BIN/IIN,但现在需要支持 8 位 BIN。本套装面向支付应用、主机、路由与 BIN 数据库的集成测试,不属于 EMV 内核测试。

套装构成

套装构成
项目内容
张数8 张
对象品牌以 Visa/Mastercard/Maestro 为主,涵盖多个地区与货币的 8 位 BIN 配置

可发现的实现问题

可发现的实现问题
对象典型问题
POS 应用仅按 6 位固定判定品牌与卡片种类
主机BIN 表尚未适配 8 位
路由错投至旧的 BIN 范围
DCC国家与货币的判定仍以 6 位 BIN 为前提
小票BIN 掩码范围有误
欺诈检测6 位规则与 8 位规则冲突
Loyalty基于 BIN 的权益判定有误
Token 处理FPAN/DPAN 分类表不完整
报告Issuer/Product 分类有误

使用前,需要确认对象处理机构是否支持该测试 BIN。

与认证层级的关系

与认证层级的关系
分类定位
EMV Level 1 / Level 2并非正式认证工具
EMV Level 3支持 UAT、事前测试与回归测试
收单机构认证在收单机构指定并批准的情况下使用

“用 B2 卡通过了测试”与“通过了品牌或收单机构的认证”并不相同。

使用前与下单前的确认事项

使用前与下单前的确认事项
项目内容
主机对测试 BIN 的支持即使终端能读取卡片,若处理机构未登记测试 BIN,也无法完成联机授权。使用前请确认对象处理机构的支持情况
测试 CA 公钥若终端未载入品牌的测试 CA 公钥,SDA/DDA/CDA 相关的交易将失败
脱机 PIN 被锁定反复输入错误的脱机 PIN 会使 PIN Try Counter 递减,并可能被永久锁定
卡片有效期与交付清单发货时取得逐卡的有效期清单与收录明细
配置的固定性若需要修改任意标签,请考虑 Custom Test Card 或 ICCSimDev

选型指南 — B2 测试卡中哪一款合适

B2 的卡片产品,按“要确认哪种接口、哪种市场条件”来选择。

选型指南 — B2 测试卡中哪一款合适
产品如果是这样的需求
EMV 测试卡套装希望用实体卡按地区与品牌进行交易 UAT(以接触为主)
Touchless Dual IF Collection希望进行非接触与双界面的交易 UAT
USA Debit Test Card Set希望验证美国通用借记 AID 的选择与路由
★ 8 位 BIN 测试卡套装(本页)希望在终端、主机与路由中确认 8 位 BIN 的支持情况
UAT EBT 卡需要 EBT 等特殊用途的交易 UAT
磁条模拟器希望模拟磁道行为,或用 SmartStripe 探针验证

导入用途

  • 新开发项目中运营验证的启动
  • 配置变更与更新后的回归
  • 面向取得认证的前期全面确认

与认证的关系

用于 UAT 与事前测试。如需取得认证,我们会介绍跨层的认证支持:由认可测试实验室实施正式符合性测试,并由 EMVCo 或各支付品牌发放批准(LoA 等)。