Standards updates
标准更新
以中文摘要发布 NFC 与 EMV 支付相关标准（ISO/IEC、EMVCo 与 NFC Forum 等）的版本与测试计划变更。标准名称与 Annex 编号按原文以英文标示。
迈向 100% 卡片个人化品质检查 ― 从离线检查到在线品质检查
以批次首尾加抽样的传统品质检查，无法排除数据错位、密钥错误与芯片不良。本文梳理在个人化设备中嵌入品质检查模块、以在线验证实现全数检查的思路…
阅读文章 →Active Load Modulation(ALM）与 NFC 设备测试覆盖的扩展 ― 相位漂移耐受性测试
小型天线的 NFC 设备所使用的 ALM，可能因相位漂移引发接收错误。本文结合图示，讲解 ISO 10373-6 Ed.4 的 Active Reference PICC 与 Quest“PCD Phase Drift Immunity”工具进行的终端耐受性测试…
阅读文章 →Micropross 产品停产与 NFC 测试环境的重建 ― 迁移至 KEOLABS 平台
根据 NI 的公告，Micropross 产品已进入停产阶段，新采购与长期维护受到限制。既有设备可通过 FIME 延长使用，但新环境建议以 ProxiLAB Quest/ProxiSPY Quest/SCRIPTIS™ 为核心重建…
阅读文章 →EMVCo Reduced Range 终端的 L1 测试 ― Bulletin No.276 与受理基准评分
RR 终端的测试由 PCD L1 Analogue Test Cases v3.2a 与 RR L1 Test Guidelines v3.2a 两部分组成。2024 年 4 月的 Bulletin No.276 定义了受理基准，判定时使用 EMVCo 认定的评分工具…
阅读文章 →ISO/IEC 10373-6:2025(Edition 5）测试计划 ― 有哪些变化
ISO/IEC 10373-6 规定了 ISO/IEC 14443 所定义的近距离卡片与近距离对象、近距离耦合设备（PCD）以及近距离扩展设备特有的测试方法。从 2020 年版到 2025 年版（Edi…
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