Standards updates
標準更新
以中文摘要釋出 NFC 與 EMV 支付相關標準（ISO/IEC、EMVCo 與 NFC Forum 等）的版本與測試計劃變更。標準名稱與 Annex 編號按原文以英文標示。
邁向 100% 卡片個人化品質檢驗 ― 從離線檢查到線上品質檢驗
以批次首尾加抽樣的傳統品質檢驗，無法排除資料錯位、金鑰錯誤與晶片不良。本文梳理在個人化裝置中嵌入品質檢驗模組、以線上驗證實現全數檢查的思路…
閱讀文章 →Active Load Modulation(ALM）與 NFC 裝置測試覆蓋的擴充套件 ― 相位漂移耐受性測試
小型天線的 NFC 裝置所使用的 ALM，可能因相位漂移引發接收錯誤。本文結合圖示，講解 ISO 10373-6 Ed.4 的 Active Reference PICC 與 Quest“PCD Phase Drift Immunity”工具進行的終端耐受性測試…
閱讀文章 →Micropross 產品停產與 NFC 測試環境的重建 ― 遷移至 KEOLABS 平臺
根據 NI 的公告，Micropross 產品已進入停產階段，新採購與長期維護受到限制。既有裝置可透過 FIME 延長使用，但新環境建議以 ProxiLAB Quest/ProxiSPY Quest/SCRIPTIS™ 為核心重建…
閱讀文章 →EMVCo Reduced Range 終端的 L1 測試 ― Bulletin No.276 與受理基準評分
RR 終端的測試由 PCD L1 Analogue Test Cases v3.2a 與 RR L1 Test Guidelines v3.2a 兩部分組成。2024 年 4 月的 Bulletin No.276 定義了受理基準，判定時使用 EMVCo 認證的評分工具…
閱讀文章 →ISO/IEC 10373-6:2025(Edition 5）測試計劃 ― 有哪些變化
ISO/IEC 10373-6 規定了 ISO/IEC 14443 所定義的近距離卡片與近距離物件、近距離耦合裝置（PCD）以及近距離擴充套件裝置特有的測試方法。從 2020 年版到 2025 年版（Edi…
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