驗證層次 · L1
物理層與協議
13.56MHz 的射頻物理層。EMVCo L1 同時包含 Analog（物理、電氣／無線）與 Digital（協議編碼），是訊號鏈的入口。
職責範圍：介面（電氣／無線）EMVCo L1 同時包含 Analog（物理層）與 Digital（協議編碼）兩者。NFC Forum 分為 Analog / Digital Protocol / LLCP / SNEP，ISO 分為 10373-6（近距離）與 10373-7（鄰近），各標準的層結構不同。
與本層相關的標準
本層驗證什麼
EMVCo Level 1 同時包含 Analog（物理、電氣／無線）與 Digital（協議編碼）。想確認哪一側，所需的裝置與治具就不同。
| 想確認的內容 | 測試型別 | 對應產品 |
|---|---|---|
| 磁場強度、調製指數、波形、負載調製幅度、時序 | Analog | EMVCo L1 符合性測試套件/ProxiLAB Quest |
| 幀、狀態遷移、防衝突、RATS/ATS、FDT | Digital | EMVCo L1 符合性測試套件 |
| NFC Forum 中 Poller/Listener 雙向的符合性 | Analog/Digital/LLCP/SNEP | NFC Forum 測試套件 |
| 實通訊的抓取與波形層面的原因分析 | 分析（非符合性測試） | ProxiSPY Quest/NomadLAB |
各標準的層結構不同
“L1”所指的範圍因標準組織而異。不先確定物件標準，就無法確定所需的套件與治具。
| 標準 | 本層包含的內容 |
|---|---|
| EMVCo Contactless | 同時包含 Analog 與 Digital。版本分為終端側 v3.2a 與卡片側 v3.2b |
| NFC Forum | Analog/Digital Protocol/LLCP/SNEP，Poller 與 Listener 雙向 |
| ISO/IEC 10373-6（近距離）／-7（鄰近） | 針對 ISO/IEC 14443 與 15693 的測試方法。判定基準由被引用的標準規定 |
版本會修訂。例如 ISO/IEC 10373-6 於 2025 年釋出了 Edition 5，其中修改了 PICC 傳送測試方法（變更點說明）。適用版本在報價時固定。
DUT 的對側需要“基準環境”
本層的測試，僅有被測裝置無法成立。測試 PICC 時使用 PCD 側的基準環境，測試 PCD 時使用 PICC 側的基準環境。基準天線、Assembly 與 Reference PICC 並非附件，而是規定耦合條件、物理位置、訊號質量與可重現性的測試構成要素（基準天線與治具).
位置的全覆蓋無法靠人工重現
EMVCo 要求在整個工作空間內覆蓋各個位置。用手移動卡片時，位置的偏差會直接變成結果的偏差。定位機器人可自動完成掃描，並滿足 EMVCo 的加速度要求（超過 8 m/s²）。若不配保護罩，則須納入符合機械指令 2006/42/EC 的安全環境。
符合性測試與取得認證是不同的工序
本層的工具所進行的是符合性測試，並非認證本身。正式的 Type Approval 由認證測試室實施，Letter of Approval 由 EMVCo 或相應的 Payment System 發放（認證測試室）。開發階段越是使用與認證測試室同系統的測試平臺，測試條件的差異就越小。