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परीक्षण परत · L1

भौतिक परत और प्रोटोकॉल

13.56MHz की RF भौतिक परत। EMVCo L1 में Analog (भौतिक, विद्युत और बेतार) तथा Digital (प्रोटोकॉल कूटन) — दोनों शामिल हैं। यह सिग्नल शृंखला का प्रवेशद्वार है।

उत्तरदायित्व का दायरा: इंटरफ़ेस (विद्युत और बेतार)EMVCo L1 में Analog (भौतिक परत) और Digital (प्रोटोकॉल कूटन) — दोनों शामिल हैं। NFC Forum में Analog / Digital Protocol / LLCP / SNEP है, और ISO में 10373-6 (निकटता) तथा 10373-7 (समीपता) — हर मानक में परत-संरचना भिन्न होती है।
इस परत से जुड़े मानक
EMVCoNFC ForumICAOISO

इस परत में क्या परखा जाता है

EMVCo Level 1 में Analog (भौतिक, विद्युत और बेतार) तथा Digital (प्रोटोकॉल कूटन) — दोनों शामिल हैं। आप किसे जाँचना चाहते हैं, इसके अनुसार आवश्यक उपकरण और फ़िक्स्चर बदलते हैं।

इस परत में क्या परखा जाता है
जो आप जाँचना चाहते हैंपरीक्षण का प्रकारसंबंधित उत्पाद
चुंबकीय क्षेत्र की तीव्रता, मॉड्युलेशन सूचकांक, तरंगरूप, लोड मॉड्युलेशन का आयाम और समयनAnalogEMVCo L1 अनुरूपता सूट/ProxiLAB Quest
फ़्रेम, अवस्था परिवर्तन, टकराव-निवारण, RATS/ATS और FDTDigitalEMVCo L1 अनुरूपता सूट
NFC Forum के Poller और Listener — दोनों दिशाओं में अनुरूपताAnalog/Digital/LLCP/SNEPNFC Forum सूट
वास्तविक संचार का अनुरेखण और तरंगरूप से कारण का विश्लेषणविश्लेषण (अनुरूपता परीक्षण नहीं)ProxiSPY Quest/NomadLAB

हर मानक में परत-संरचना भिन्न होती है

“L1” शब्द किस दायरे को दर्शाता है, यह मानक-निकाय के अनुसार भिन्न है। लक्षित मानक पहले तय किए बिना आवश्यक सूट और फ़िक्स्चर निर्धारित नहीं हो सकते।

हर मानक में परत-संरचना भिन्न होती है
मानकइस परत में क्या शामिल है
EMVCo ContactlessAnalog और Digital दोनों। संस्करण अलग होते हैं: टर्मिनल पक्ष v3.2a, कार्ड पक्ष v3.2b
NFC ForumAnalog / Digital Protocol / LLCP / SNEP। Poller और Listener — दोनों दिशाएँ
ISO/IEC 10373-6 (निकटता) और -7 (समीपता)ISO/IEC 14443 और 15693 के लिए परीक्षण विधियाँ। स्वीकृति मानदंड संदर्भित मानक में ही निर्धारित होते हैं

संस्करण संशोधित होते रहते हैं। उदाहरण के लिए ISO/IEC 10373-6 का Edition 5, 2025 में प्रकाशित हुआ और उसमें PICC प्रेषण परीक्षण विधि में सुधार आदि शामिल हुए (परिवर्तनों की व्याख्या)। लागू संस्करण अनुमान के समय निश्चित किया जाता है।

DUT के विपरीत पक्ष पर एक “संदर्भ वातावरण” चाहिए

इस परत का परीक्षण केवल परखे जाने वाले उपकरण से पूरा नहीं होता।PICC परखते समय PCD पक्ष का संदर्भ वातावरण और PCD परखते समय PICC पक्ष का संदर्भ वातावरण उपयोग होता है। संदर्भ ऐंटेना, असेंबली और Reference PICC कोई सहायक सामग्री नहीं, बल्कि युग्मन की शर्त, भौतिक स्थिति, सिग्नल की गुणवत्ता और पुनरुत्पाद्यता निर्धारित करने वाले परीक्षण घटक हैं (संदर्भ ऐंटेना और फ़िक्स्चर).

स्थिति की व्यापकता हाथ से पुनरुत्पादित नहीं की जा सकती

EMVCo पूरे कार्य-आयतन में स्थिति की व्यापकता चाहता है। कार्ड को हाथ से हिलाने पर स्थिति का अंतर सीधे परिणाम के अंतर में बदल जाता है।स्थिति-निर्धारक रोबोट इस स्कैनिंग को स्वचालित करता है और EMVCo की त्वरण-सीमा (8 m/s² से अधिक) पूरी करता है। सुरक्षा पिंजरे के बिना लगाने पर, इसे मशीनरी निर्देश 2006/42/EC के अनुरूप सुरक्षित वातावरण में समाहित करना आवश्यक है।

अनुरूपता परीक्षण और प्रमाणन प्राप्ति अलग-अलग प्रक्रियाएँ हैं

इस परत के उपकरणों से जो किया जाता है, वह अनुरूपता परीक्षण है, प्रमाणन स्वयं नहीं। औपचारिक Type Approval मान्यता प्राप्त परीक्षण प्रयोगशाला करती है और Letter of Approval, EMVCo या संबंधित Payment System जारी करता है (मान्यता प्राप्त परीक्षण प्रयोगशाला)। विकास चरण में मान्यता प्राप्त प्रयोगशाला जैसी ही श्रेणी का परीक्षण आधार जितना उपयोग करेंगे, परीक्षण की परिस्थितियों का अंतर उतना ही घटेगा।

आपूर्तिकर्ता
प्रमाणन (सभी परतों में)