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L1 · भौतिक परत और प्रोटोकॉल

Keolabs संदर्भ ऐंटेना और फ़िक्स्चर

KEOLABS, परीक्षण उपकरण आपूर्तिकर्ता के रूप में, EMVCo, NFC Forum, ICAO, CEN TS 16794 और ISO 10373-6 जैसे मानकों से जोड़कर संदर्भ ऐंटेना तथा फ़िक्स्चर अभिकल्पित करता है। हर ऐंटेना मानक की तकनीकी आवश्यकताओं का यथासंभव निष्ठापूर्वक पालन करते हुए बनाया गया है। ये सहायक सामग्री नहीं, बल्कि DUT के विपरीत पक्ष का RF वातावरण (युग्मन की शर्त, भौतिक स्थिति, संकेत की गुणवत्ता और पुनरुत्पाद्यता) निर्धारित करने वाले परीक्षण घटक हैं।

आपूर्तिकर्ता Keolabs मानक ISO/IEC 10373-6 · EMVCo L1 · NFC Forum · ISO 15693 · ICAO संदर्भ ऐंटेना और फ़िक्स्चर

परीक्षण की समग्र तस्वीर

परीक्षण बेंच चार घटकों से बनता है: सॉफ़्टवेयर → परीक्षक → फ़िक्स्चर → परखा जाने वाला उपकरण। यह उत्पाद इनमें कहाँ आता है, वह यहाँ दिखाया गया है।

चरण 1 — परीक्षण कार्यक्रममानक टेस्ट सूट (निष्पादन परिवेश: SCRIPTIS™)प्रत्येक विनिर्देश के परीक्षण प्रोग्राम SCRIPTIS™ पर चलते हैं। प्रदान करने का स्वरूप और लाइसेंस विन्यास कोटेशन विन्यास के अनुसार पुष्ट किए जाते हैं। संचालन के दौरान DUT रखने और फ़िक्स्चर बदलने के पॉप-अप निर्देश दिखते हैं।
चरण 2 — परीक्षक इकाईProxiLAB Quest आदिसंकेत उत्पन्न करने और मापने वाला हार्डवेयर। कार्ड या रीडर का अनुकरण करता है
चरण 3 — फ़िक्स्चर और स्वचालनसंदर्भ ऐंटेना, प्रोब और रोबोटमानक द्वारा निर्धारित संदर्भ फ़िक्स्चर का जुड़ा होना अनिवार्य है। जुड़ा न हो तो सूट चलाया नहीं जा सकता। रोबोट से स्थिति की स्कैनिंग स्वचालित होती है
चरण 4 — परखा जाने वाला उपकरणDUT: कार्ड, टर्मिनल और मोबाइल उपकरणविकासाधीन उत्पाद। मानक-अनुरूपता और परस्पर संगतता परखने का विषय

ये क्या निर्धारित करते हैं

KEOLABS, परीक्षण उपकरण आपूर्तिकर्ता के रूप में, EMVCo, NFC Forum, ICAO, CEN TS 16794 और ISO 10373-6 जैसे मानकों से जोड़कर संदर्भ ऐंटेना तथा फ़िक्स्चर अभिकल्पित करता है। हर ऐंटेना मानक की तकनीकी आवश्यकताओं का यथासंभव निष्ठापूर्वक पालन करते हुए बनाया गया है। ये सहायक सामग्री नहीं, बल्कि DUT के विपरीत पक्ष का RF वातावरण (युग्मन की शर्त, भौतिक स्थिति, संकेत की गुणवत्ता और पुनरुत्पाद्यता) निर्धारित करने वाले परीक्षण घटक हैं।

DUT के विपरीत पक्ष का संदर्भ वातावरण

संदर्भ ऐंटेना और फ़िक्स्चर “सहायक सामग्री” नहीं हैं।परीक्षणाधीन डिवाइस (DUT) के विपरीत पक्ष का RF वातावरण बनाने वाले तथा युग्मन की शर्त, भौतिक स्थिति, संकेत की गुणवत्ता और पुनरुत्पाद्यता निर्धारित करने वाले परीक्षण घटक हैं। PICC परखते समय PCD पक्ष का संदर्भ और PCD परखते समय PICC पक्ष का संदर्भ उपयोग होता है।

DUT के विपरीत पक्ष का संदर्भ वातावरण
परीक्षण का विषय (DUT)संदर्भ पक्ष पर आवश्यक मुख्य घटक
PICC अथवा कार्ड (परखा जाता है)PCD पक्ष का संदर्भ: EMVCo Test PCD और ISO PCD Assembly
PCD अथवा रीडर (परखा जाता है)PICC पक्ष का संदर्भ: EMVCo Test PICC और REFPICC (श्रेणी के अनुसार)
VICC अथवा ISO 15693 (परखा जाता है)REFVICC, PCD Assembly ISO15693
NFC Poller अथवा Listener (परखा जाता है)विपरीत पक्ष का संदर्भ ऐंटेना: Poller-Listener Kit और NFC Forum Kit

संदर्भ सहायक उपकरण और फ़िक्स्चर (वास्तविक SKU)

ये मानक-वार संदर्भ ऐंटेना, असेंबली, Reference PICC और अंशांकन घटक हैं। किट में क्या-क्या है और वर्तमान SKU — ये ऑर्डर के समय जाँचते हैं।

EMVCo सहायक उपकरण

EMVCo सहायक उपकरण

EMVCo सहायक उपकरण
SC-EMVCo Test PICC V3.0तीन EMVCo PICC की किट (Class 1 को 13.56 और 16.1MHz पर तथा Class 3 को 13.56MHz पर समायोजित)
SC-EMVCo Test PCD V3.0एक EMVCo PCD ऐंटेना
SC-EMVCo KIT

SC-EMVCo KIT

SC-EMVCo KIT
SC-EMVCo KITतीन प्रकार के PICC संदर्भ + PCD ऐंटेना + Test PCD लगाने का स्टैंड (स्टैकर सहित) + CMR (संकेत समायोजन तथा प्रविष्टि-निर्गत की अदला-बदली)
SC-ISO Test PCD Assembly (वास्तविक उपकरण)

ISO कार्ड हेतु सहायक उपकरण (PCD Assembly)

ISO कार्ड हेतु सहायक उपकरण (PCD Assembly)
SC-PCD Assembly -4R7 (ISO PCD Assembly 1)ISO 10373-6 Test PCD Assembly 1 (Class 1-3 हेतु)। तीन मिलान परिपथ (Rext 4.7Ω, 0.94Ω और बाइपास) अंतर्निर्मित हैं और स्वतः अथवा हाथ से चुने जाते हैं। ISO/IEC 10373-6:2020 के अनुरूप
SC-PCD Assembly -1R (ISO PCD Assembly 1)ISO 10373-6 का निम्न गति Test PCD Assembly (Rext 1Ω)। L1 ISO 14443 (AMF) परीक्षण हेतु
SC-PCD Assembly -2R7ISO 10373-6 Test PCD Assembly 2 (Class 4-6 हेतु)। तीन मिलान परिपथ (Rext 2.7Ω, 0.54Ω और बाइपास) अंतर्निर्मित। ISO/IEC 10373-6:2020 के अनुरूप
SC-PCD Assembly ISO15693ISO 10373-7 Test VCD Assembly। ISO 15693 लागू कार्ड के परीक्षण हेतु ऐंटेना और संवेदी कुंडली
SC-REFPICC-CLASS1 संदर्भ PICC (वास्तविक उपकरण)

ISO रीडर हेतु सहायक उपकरण (REFPICC और REFVICC)

ISO रीडर हेतु सहायक उपकरण (REFPICC और REFVICC)
SC-REFPICC-CLASS1ISO 10373-6 PICC Reference Probe (Class ID1)। संपर्करहित रीडर के परीक्षण हेतु
SC-REFPICC-KIT-CLASS1-3PICC Reference probe Kit (Class 1-3)
SC-REFPICC-KIT-CLASS4-6PICC Reference probe Kit (Class 4-6)
SC-REFVICCISO 15693 VICC Reference Probe। ISO 15693 रीडर के परीक्षण हेतु
NFC Forum सहायक उपकरण

NFC Forum सहायक उपकरण

NFC Forum सहायक उपकरण
SC-Poller-Listener-kitNFC वस्तु और प्रणाली के परीक्षण हेतु Poller / Listener संदर्भ ऐंटेना
SC-NFC Forum KitPoller और Listener ऐंटेना + अंशांकन हेतु परीक्षण बेंच + KEOKLAMP (ऐंटेना और उपकरण को थामने हेतु)
अन्य सहायक उपकरण

अन्य सहायक उपकरण

अन्य सहायक उपकरण
Micro Nano Sim Flex KITचार प्रकार के 3FF Micro SIM प्रोब + चार प्रकार के 4FF Nano SIM प्रोब + Nano SIM R1 का अति-लंबा संस्करण
Inter-connection Cables50cm और 100cm के SMA-SMA प्लेटफ़ॉर्म संयोजन तार
SC-RF Probe 4 V1.3मोबाइल फ़ोन और गैर-मानक आकृतियों हेतु RF प्रोब

समर्थित मानक और ब्रांड

समर्थित मानक
EMVCoNFC ForumICAOISO

हर मानक का संदर्भ फ़िक्स्चर (समर्थन, विन्यास और लाइसेंस के अनुसार भिन्न होता है)

उपयोग में ध्यान देने योग्य बातें

ऐंटेना हर मानक (EMVCo, NFC Forum, ICAO, CEN TS 16794 और ISO 10373-6) की तकनीकी आवश्यकताओं का निष्ठापूर्वक पालन करते हुए अभिकल्पित हैं। PICC परखते समय PCD पक्ष का और PCD परखते समय PICC पक्ष का संदर्भ उपयोग होता है। PCD Assembly का उपयोग Rext मान के अनुसार बँटता है (4.7Ω = उच्च गति L2, 1Ω = निम्न गति L1 AMF)। किट में क्या-क्या है और वर्तमान SKU — ये ऑर्डर के समय जाँचते हैं।