L1 · 物理層與協議
Keolabs 基準天線與治具
KEOLABS 作為測試工具供應商，依據 EMVCo、NFC Forum、ICAO、CEN TS 16794 與 ISO 10373-6 等各標準設計的基準天線與治具。各天線均儘可能忠實於標準的技術要求。它們並非附件，而是規定 DUT 對側射頻環境（耦合條件、物理位置、訊號質量與可重現性）的測試構成要素。
測試的整體結構
測試檯由“軟體 → 測試儀 → 治具 → 被測裝置”四個要素構成。下面說明本產品位於其中的哪個位置。
STEP 1 — 測試程式規格測試套件（執行環境：SCRIPTIS™）各規格的測試程式在 SCRIPTIS™ 上執行。提供形式與授權組成依報價組態確認。執行中會彈出放置待測裝置與更換治具的提示。
STEP 2 — 測試儀主機ProxiLAB Quest 等生成與測量訊號的硬體，可模擬卡片或讀卡機
STEP 3 — 治具與自動化基準天線、探針與機器人標準規定的基準治具必須連線。未連線則無法執行套件。可用機器人自動完成位置掃描
STEP 4 — 被測裝置DUT：卡片、終端與移動裝置開發中的產品，是驗證標準符合性與互操作性的物件
規定什麼
KEOLABS 作為測試工具供應商，依據 EMVCo、NFC Forum、ICAO、CEN TS 16794 與 ISO 10373-6 等各標準設計的基準天線與治具。各天線均儘可能忠實於標準的技術要求。它們並非附件，而是規定 DUT 對側射頻環境（耦合條件、物理位置、訊號質量與可重現性）的測試構成要素。
DUT 對側的基準環境
基準天線與治具並不是“附件”。被測物件（DUT）對側的射頻環境，是規定耦合條件、物理位置、訊號質量與可重現性的測試構成要素。測試 PICC 時使用 PCD 側的基準，測試 PCD 時使用 PICC 側的基準。
| 被測物件（DUT） | 基準側所需的代表性要素 |
|---|---|
| （測試）PICC 與卡片 | PCD 側的基準：EMVCo Test PCD、ISO PCD Assembly |
| （測試）PCD 與讀卡機 | PICC 側的基準：EMVCo Test PICC、REFPICC（按 Class 區分） |
| （測試）VICC 與 ISO 15693 | REFVICC, PCD Assembly ISO15693 |
| （測試）NFC Poller 與 Listener | 對側的基準天線：Poller-Listener Kit、NFC Forum Kit |
基準配件與治具（實際 SKU）
按標準劃分的基準天線、Assembly、Reference PICC 與校準要素。套件的包含內容與現行 SKU 在下單時確認。
EMVCo 配件
| SC-EMVCo Test PICC V3.0 | EMVCo PICC 3 件套（Class1 調至 13.56/16.1MHz，Class3 調至 13.56MHz） |
|---|---|
| SC-EMVCo Test PCD V3.0 | EMVCo PCD 天線 1 個 |
SC-EMVCo KIT
| SC-EMVCo KIT | PICC 基準 3 種＋PCD 天線＋搭載 Test PCD 的支架（帶堆疊器）＋CMR（訊號調整與輸入輸出切換） |
|---|
ISO 卡片用配件（PCD Assembly）
| SC-PCD Assembly -4R7 (ISO PCD Assembly 1) | ISO 10373-6 Test PCD Assembly 1（用於 Class 1-3）。內建 3 種匹配電路（Rext 4.7Ω／0.94Ω／旁路），可自動或手動選擇。符合 ISO/IEC 10373-6 |
|---|---|
| SC-PCD Assembly -1R (ISO PCD Assembly 1) | ISO 10373-6 低速 Test PCD Assembly(Rext 1Ω）。用於 L1 ISO 14443(AMF）測試 |
| SC-PCD Assembly -2R7 | ISO 10373-6 Test PCD Assembly 2（用於 Class 4-6）。內建 3 種匹配電路（Rext 2.7Ω／0.54Ω／旁路）。符合 ISO/IEC 10373-6 |
| SC-PCD Assembly ISO15693 | ISO 10373-7 Test VCD Assembly。用於 ISO 15693 實裝卡片測試的天線與感應線圈 |
ISO 讀卡機用配件（REFPICC/REFVICC）
| SC-REFPICC-CLASS1 | ISO 10373-6 PICC Reference Probe(Class ID1）。用於非接觸讀卡機測試 |
|---|---|
| SC-REFPICC-KIT-CLASS1-3 | PICC Reference probe Kit (Class 1-3) |
| SC-REFPICC-KIT-CLASS4-6 | PICC Reference probe Kit (Class 4-6) |
| SC-REFVICC | ISO 15693 VICC Reference Probe。用於 ISO 15693 讀卡機測試 |
NFC Forum 配件
| SC-Poller-Listener-kit | 用於 NFC 物件與系統測試的 Poller/Listener 基準天線 |
|---|---|
| SC-NFC Forum Kit | Poller/Listener 天線＋校準用測試臺＋KEOKLAMP（固定天線與裝置） |
其他配件
| Micro Nano Sim Flex KIT | 3FF Micro SIM 探針 4 種＋4FF Nano SIM 探針 4 種＋Nano SIM R1 超長版 |
|---|---|
| Inter-connection Cables | 50cm/100cm SMA-SMA 平臺連線電纜 |
| SC-RF Probe 4 V1.3 | 面向手機與非標準外形的射頻探針 |
支援的標準與品牌
支援的標準
各標準的基準治具（支援範圍因設定與授權而異）
執行注意事項
天線忠實於各標準（EMVCo/NFC Forum/ICAO/CEN TS 16794/ISO 10373-6）的技術要求設計。測試 PICC 時使用 PCD 側的基準，測試 PCD 時使用 PICC 側的基準。