Keolabs 기준 안테나·지그
KEOLABS가 시험 도구 공급사로서 EMVCo·NFC Forum·ICAO·CEN TS 16794·ISO 10373-6 등 각 규격에 연결하여 설계하는 기준 안테나·지그입니다. 각 안테나는 규격의 기술 요건에 가능한 한 충실하게 설계되어 있습니다. 이들은 부속품이 아니라, DUT 반대편의 RF 환경(결합 조건·물리 위치·신호 품질·재현성)을 규정하는 시험 구성 요소입니다.
시험의 전체상
시험 벤치는 “소프트웨어 → 테스터 → 지그 → 피시험 기기” 의 4요소로 구성됩니다. 본 제품이 어디에 위치하는지를 나타냅니다.
무엇을 규정하는가
KEOLABS가 시험 도구 공급사로서 EMVCo·NFC Forum·ICAO·CEN TS 16794·ISO 10373-6 등 각 규격에 연결하여 설계하는 기준 안테나·지그입니다. 각 안테나는 규격의 기술 요건에 가능한 한 충실하게 설계되어 있습니다. 이들은 부속품이 아니라, DUT 반대편의 RF 환경(결합 조건·물리 위치·신호 품질·재현성)을 규정하는 시험 구성 요소입니다.
DUT 반대편의 기준 환경
기준 안테나·지그는 “부속품” 이 아닙니다.시험 대상(DUT) 반대편의 RF 환경을 형성하며, 결합 조건·물리 위치·신호 품질·재현성을 규정하는 시험 구성 요소입니다. PICC를 시험할 때는 PCD 측의 기준을, PCD를 시험할 때는 PICC 측의 기준을 사용합니다.
| 시험 대상(DUT) | 기준 측에 필요한 대표 요소 |
|---|---|
| PICC·카드(를 시험) | PCD 측의 기준: EMVCo Test PCD, ISO PCD Assembly |
| PCD·리더(를 시험) | PICC 측의 기준: EMVCo Test PICC, REFPICC(Class별) |
| VICC·ISO 15693(을 시험) | REFVICC, PCD Assembly ISO15693 |
| NFC Poller·Listener(를 시험) | 반대편의 기준 안테나: Poller-Listener Kit, NFC Forum Kit |
기준 액세서리·지그(실제 SKU)
규격별 기준 안테나·어셈블리·Reference PICC·교정 요소입니다. 키트의 포함물과 현행 SKU는 주문 시점에 확인합니다.

EMVCo 액세서리
| SC-EMVCo Test PICC V3.0 | EMVCo PICC 3개 키트(Class 1을 13.56/16.1MHz, Class 3을 13.56MHz로 조정) |
|---|---|
| SC-EMVCo Test PCD V3.0 | EMVCo PCD 안테나 1개 |

SC-EMVCo KIT
| SC-EMVCo KIT | PICC 기준 3종+PCD 안테나+Test PCD 탑재 스탠드(스태커 부착)+CMR(신호 조정·입출력 전환) |
|---|

ISO 카드용 액세서리(PCD Assembly)
| SC-PCD Assembly -4R7 (ISO PCD Assembly 1) | ISO 10373-6 Test PCD Assembly 1(Class 1-3용). 3종의 매칭 회로(Rext 4.7Ω / 0.94Ω / 바이패스)를 내장하여 자동 또는 수동으로 선택합니다. ISO/IEC 10373-6:2020 준거 |
|---|---|
| SC-PCD Assembly -1R (ISO PCD Assembly 1) | ISO 10373-6 저속 Test PCD Assembly(Rext 1Ω). L1 ISO 14443(AMF) 시험용 |
| SC-PCD Assembly -2R7 | ISO 10373-6 Test PCD Assembly 2(Class 4-6용). 3종의 매칭 회로(Rext 2.7Ω / 0.54Ω / 바이패스)를 내장합니다. ISO/IEC 10373-6:2020 준거 |
| SC-PCD Assembly ISO15693 | ISO 10373-7 Test VCD Assembly. ISO 15693 구현 카드 시험용 안테나·센싱 코일 |

ISO 리더용 액세서리(REFPICC / REFVICC)
| SC-REFPICC-CLASS1 | ISO 10373-6 PICC Reference Probe(Class ID1). 비접촉 리더 시험용 |
|---|---|
| SC-REFPICC-KIT-CLASS1-3 | PICC Reference probe Kit (Class 1-3) |
| SC-REFPICC-KIT-CLASS4-6 | PICC Reference probe Kit (Class 4-6) |
| SC-REFVICC | ISO 15693 VICC Reference Probe. ISO 15693 리더 시험용 |

NFC Forum 액세서리
| SC-Poller-Listener-kit | NFC 오브젝트·시스템 시험용 Poller / Listener 기준 안테나 |
|---|---|
| SC-NFC Forum Kit | Poller/Listener 안테나+교정용 테스트 벤치+KEOKLAMP(안테나·디바이스 유지) |

기타 액세서리
| Micro Nano Sim Flex KIT | 3FF Micro SIM 프로브 4종+4FF Nano SIM 프로브 4종+Nano SIM R1 초장형 |
|---|---|
| Inter-connection Cables | 50cm / 100cm SMA-SMA 플랫폼 접속 케이블 |
| SC-RF Probe 4 V1.3 | 휴대전화·비표준 폼팩터용 RF 프로브 |
지원 규격·브랜드




각 규격의 기준 지그(지원은 구성·라이선스에 따라 다릅니다)
운용상의 주의
안테나는 각 규격(EMVCo/NFC Forum/ICAO/CEN TS 16794/ISO 10373-6)의 기술 요건에 충실하게 설계되었습니다. PICC를 시험할 때는 PCD 측, PCD를 시험할 때는 PICC 측의 기준을 사용합니다. PCD Assembly는 Rext 값(4.7Ω=고속 L2 / 1Ω=저속 L1 AMF)으로 용도가 나뉩니다. 키트의 포함물과 현행 SKU는 주문 시점에 확인합니다.
