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L1 · 물리 계층·프로토콜

Keolabs 기준 안테나·지그

KEOLABS가 시험 도구 공급사로서 EMVCo·NFC Forum·ICAO·CEN TS 16794·ISO 10373-6 등 각 규격에 연결하여 설계하는 기준 안테나·지그입니다. 각 안테나는 규격의 기술 요건에 가능한 한 충실하게 설계되어 있습니다. 이들은 부속품이 아니라, DUT 반대편의 RF 환경(결합 조건·물리 위치·신호 품질·재현성)을 규정하는 시험 구성 요소입니다.

공급사 Keolabs 규격 ISO/IEC 10373-6 · EMVCo L1 · NFC Forum · ISO 15693 · ICAO 기준 안테나·지그

시험의 전체상

시험 벤치는 “소프트웨어 → 테스터 → 지그 → 피시험 기기” 의 4요소로 구성됩니다. 본 제품이 어디에 위치하는지를 나타냅니다.

STEP 1 — 테스트 프로그램규격 테스트 스위트(실행 환경: SCRIPTIS™)규격별 테스트 프로그램은 SCRIPTIS™ 위에서 실행합니다. 제공 형태·라이선스 구성은 견적 구성에 따라 확인합니다. 실행 중에는 DUT 설치·지그 변경 팝업 지시가 표시됩니다.
STEP 2 — 테스터 본체ProxiLAB Quest 등신호의 생성·측정을 수행하는 하드웨어입니다. 카드·리더를 에뮬레이트합니다
STEP 3 — 지그·자동화기준 안테나·프로브·로봇규격이 정하는 기준 지그의 접속이 필수입니다. 접속하지 않으면 스위트를 실행할 수 없습니다. 로봇으로 위치 스윕을 자동화합니다
STEP 4 — 피시험 기기DUT: 카드·단말·모바일 기기개발 중인 제품입니다. 규격 적합성과 상호 운용성을 검증하는 대상입니다

무엇을 규정하는가

KEOLABS가 시험 도구 공급사로서 EMVCo·NFC Forum·ICAO·CEN TS 16794·ISO 10373-6 등 각 규격에 연결하여 설계하는 기준 안테나·지그입니다. 각 안테나는 규격의 기술 요건에 가능한 한 충실하게 설계되어 있습니다. 이들은 부속품이 아니라, DUT 반대편의 RF 환경(결합 조건·물리 위치·신호 품질·재현성)을 규정하는 시험 구성 요소입니다.

DUT 반대편의 기준 환경

기준 안테나·지그는 “부속품” 이 아닙니다.시험 대상(DUT) 반대편의 RF 환경을 형성하며, 결합 조건·물리 위치·신호 품질·재현성을 규정하는 시험 구성 요소입니다. PICC를 시험할 때는 PCD 측의 기준을, PCD를 시험할 때는 PICC 측의 기준을 사용합니다.

DUT 반대편의 기준 환경
시험 대상(DUT)기준 측에 필요한 대표 요소
PICC·카드(를 시험)PCD 측의 기준: EMVCo Test PCD, ISO PCD Assembly
PCD·리더(를 시험)PICC 측의 기준: EMVCo Test PICC, REFPICC(Class별)
VICC·ISO 15693(을 시험)REFVICC, PCD Assembly ISO15693
NFC Poller·Listener(를 시험)반대편의 기준 안테나: Poller-Listener Kit, NFC Forum Kit

기준 액세서리·지그(실제 SKU)

규격별 기준 안테나·어셈블리·Reference PICC·교정 요소입니다. 키트의 포함물과 현행 SKU는 주문 시점에 확인합니다.

EMVCo 액세서리

EMVCo 액세서리

EMVCo 액세서리
SC-EMVCo Test PICC V3.0EMVCo PICC 3개 키트(Class 1을 13.56/16.1MHz, Class 3을 13.56MHz로 조정)
SC-EMVCo Test PCD V3.0EMVCo PCD 안테나 1개
SC-EMVCo KIT

SC-EMVCo KIT

SC-EMVCo KIT
SC-EMVCo KITPICC 기준 3종+PCD 안테나+Test PCD 탑재 스탠드(스태커 부착)+CMR(신호 조정·입출력 전환)
SC-ISO Test PCD Assembly(실제 장비)

ISO 카드용 액세서리(PCD Assembly)

ISO 카드용 액세서리(PCD Assembly)
SC-PCD Assembly -4R7 (ISO PCD Assembly 1)ISO 10373-6 Test PCD Assembly 1(Class 1-3용). 3종의 매칭 회로(Rext 4.7Ω / 0.94Ω / 바이패스)를 내장하여 자동 또는 수동으로 선택합니다. ISO/IEC 10373-6:2020 준거
SC-PCD Assembly -1R (ISO PCD Assembly 1)ISO 10373-6 저속 Test PCD Assembly(Rext 1Ω). L1 ISO 14443(AMF) 시험용
SC-PCD Assembly -2R7ISO 10373-6 Test PCD Assembly 2(Class 4-6용). 3종의 매칭 회로(Rext 2.7Ω / 0.54Ω / 바이패스)를 내장합니다. ISO/IEC 10373-6:2020 준거
SC-PCD Assembly ISO15693ISO 10373-7 Test VCD Assembly. ISO 15693 구현 카드 시험용 안테나·센싱 코일
SC-REFPICC-CLASS1 기준 PICC(실제 장비)

ISO 리더용 액세서리(REFPICC / REFVICC)

ISO 리더용 액세서리(REFPICC / REFVICC)
SC-REFPICC-CLASS1ISO 10373-6 PICC Reference Probe(Class ID1). 비접촉 리더 시험용
SC-REFPICC-KIT-CLASS1-3PICC Reference probe Kit (Class 1-3)
SC-REFPICC-KIT-CLASS4-6PICC Reference probe Kit (Class 4-6)
SC-REFVICCISO 15693 VICC Reference Probe. ISO 15693 리더 시험용
NFC Forum 액세서리

NFC Forum 액세서리

NFC Forum 액세서리
SC-Poller-Listener-kitNFC 오브젝트·시스템 시험용 Poller / Listener 기준 안테나
SC-NFC Forum KitPoller/Listener 안테나+교정용 테스트 벤치+KEOKLAMP(안테나·디바이스 유지)
기타 액세서리

기타 액세서리

기타 액세서리
Micro Nano Sim Flex KIT3FF Micro SIM 프로브 4종+4FF Nano SIM 프로브 4종+Nano SIM R1 초장형
Inter-connection Cables50cm / 100cm SMA-SMA 플랫폼 접속 케이블
SC-RF Probe 4 V1.3휴대전화·비표준 폼팩터용 RF 프로브

지원 규격·브랜드

지원 규격
EMVCoNFC ForumICAOISO

각 규격의 기준 지그(지원은 구성·라이선스에 따라 다릅니다)

운용상의 주의

안테나는 각 규격(EMVCo/NFC Forum/ICAO/CEN TS 16794/ISO 10373-6)의 기술 요건에 충실하게 설계되었습니다. PICC를 시험할 때는 PCD 측, PCD를 시험할 때는 PICC 측의 기준을 사용합니다. PCD Assembly는 Rext 값(4.7Ω=고속 L2 / 1Ω=저속 L1 AMF)으로 용도가 나뉩니다. 키트의 포함물과 현행 SKU는 주문 시점에 확인합니다.