검증 계층 · 운영
UAT·회귀 시험
지역/브랜드 UAT, 회귀 시험, 발급 검증. 본가동 전의 수용 시험입니다.
이 계층에서 무엇을 검증하는가
인증을 통과한 단말이나 카드가 실제 시장·프로세서·직불 네트워크에서 올바르게 수용되는지를 확인하는 계층입니다. 인증 도구와 실제 시장 사이를 메웁니다. 사양에의 적합성이 아니라 운영 조건에의 적합성을 봅니다.
| 확인하고 싶은 것 | 해당 제품 |
|---|---|
| 지역·브랜드별 거래 UAT를 물리 카드로 실시(접촉 중심) | B2 EMV 테스트 카드 세트 |
| 비접촉·듀얼 인터페이스의 거래 UAT, 실제 월렛의 수용 확인 | Touchless Dual Interface Collection |
| 미국 공통 직불 AID의 선택·라우팅을 단말부터 영수증까지 일괄 확인 | USA Debit Test Card Set |
| 8자리 BIN 대응을 결제 앱·호스트·라우팅·BIN 데이터베이스에서 확인 | 8-Digit BIN Test Card Set |
| EBT 등 특수 용도의 거래 UAT | UAT EBT Card |
| 거래의 망라·회귀 시험을 자동 실행한다 | PaytestLab/PaytestHub/PaytestRobot |
물리 테스트 카드 운용에서 실무상 걸림돌이 되는 점
카드가 도착해도 다음 조건이 갖춰지지 않으면 거래가 성립하지 않습니다. 발주 전·사용 전에 확인합니다.
| 항목 | 내용 |
|---|---|
| 테스트 BIN의 호스트 대응 | 카드를 단말이 읽어도 프로세서가 테스트 BIN을 등록하지 않았다면 온라인 승인이 되지 않습니다. Interac BIN, 8자리 BIN, Mastercard BIN 2, US Common Debit, DCC 해외 BIN, Fleet BIN은 특히 확인이 필요합니다 |
| 테스트 CA 공개키 | 단말 측에 브랜드의 테스트 CA 공개키가 등록되어 있지 않으면 SDA/DDA/CDA 관련으로 거래가 실패합니다. CA Public Key Index, 키 로드 방법, 키 유효기간, 운영 키와의 분리를 확인합니다 |
| 오프라인 PIN의 차단 | 잘못된 Offline PIN을 반복하면 PIN Try Counter가 감소하여 영구적으로 차단되는 경우가 있습니다. 올바른 PIN, 시도 횟수, 재사용 가능 여부를 카드 관리표에 기록하는 운용을 권장합니다 |
| 카드 유효기간 | 공개 정보에는 장기 유효한 카드와 옛 정보가 섞여 있습니다. 출하 시 카드별 유효기간 목록을 받습니다 |
인증과의 관계
“테스트 카드로 합격했다” 는 것과 “브랜드 또는 매입사 인증에 합격했다” 는 것은 같지 않습니다.이 계층의 카드는 정식 인증으로 나아가기 전의 장애 제거에 유효하지만, 인증 도구 자체는 아닙니다. 정식 인증에 사용하실 경우, Payment Scheme·Acquirer·Processor·Gateway·Certification Laboratory·Terminal Vendor 가운데 어디의 승인이 필요한지 확인해 주십시오.
발급 측과 단말 측의 구분
같은 “테스트 카드” 라도 목적이 다릅니다. 단말 구성을 검증하는 카드(ICC Merchant Test Cards)와 거래 UAT의 카드(B2)는 별개입니다. 이 구별이 있기에 두 회사의 제품이 같은 선반에 섞이는 일은 없습니다.
자동화는 3개 계층으로 나뉩니다
거래 시험의 자동화는 작성·관리·실행(Hub)·L3 실행(Player)·물리 조작(Robot)의 3계층 구성입니다. 단독으로도 단계적 도입으로도 사용할 수 있습니다. 장시간의 회귀 시험을 사람 손을 거치지 않고 실행할 수 있으며, 조작 편차로 인한 재현성 문제도 해소합니다.