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L1 · 물리 계층·프로토콜

Keolabs EMVCo Level 1 벤치마크 스위트

EMVCo Contactless Level 1의 적합성 시험 솔루션입니다. PICC(근접 IC 카드)와 PCD(근접 결합 디바이스, 즉 리더)의 아날로그·디지털 구현을 검증합니다. KEOLABS는 EMVCo의 대상 사양에 대해 qualification을 취득한 테스트 도구·테스트 스위트를 제공하고 있습니다. 적격성의 대상 범위·구성·소프트웨어 버전·qualification 번호는 제품 및 규격 버전마다 확인이 필요합니다. SCRIPTIS™ 테스트 환경과, EMVCo 규격에 엄밀히 준거한 액세서리를 포함하는 완전한 테스트 벤치로 구성됩니다.

공급사 Keolabs 규격 EMV L1 · Contactless Interface v3.2a/b · ISO/IEC 14443 테스트 스위트 인증 대응
EMVCo L1 테스트 벤치(실제 장비)
EMVCo L1 테스트 벤치(실제 장비)LeCroy 오실로스코프·Bowen 앰프·DENSO 로봇·기준 안테나를 포함하는 실제 시험 구성
SCRIPTIS™ 실행 환경(UI)
SCRIPTIS™ 실행 환경(UI)EMVCo PICC Level 1 Analog Test Suite의 실행 화면. 테스트 트리·로그·스크립트를 한 화면에
ProxiLAB Quest(실제 장비)
ProxiLAB QuestPICC·PCD·NFC 신호 에뮬레이터. EMVCo L1 시험의 중핵 테스터
Teledyne LeCroy HDO6034-B
LeCroy HDO6034-B12비트 ADC·Xdev. SCRIPTIS 통합으로 아날로그 벤치를 완전 제어
BOWEN 50W RF 앰프
BOWEN 50W – 50Ω10-250MHz 가변 이득. EMVCo 전력 범위+ISO 14443 교번 자계 시험에 대응

시험의 전체상

시험 벤치는 “소프트웨어 → 테스터 → 지그 → 피시험 기기” 의 4요소로 구성됩니다. 본 제품이 어디에 위치하는지를 나타냅니다.

STEP 1 — 테스트 프로그램규격 테스트 스위트(실행 환경: SCRIPTIS™)규격별 테스트 프로그램은 SCRIPTIS™ 위에서 실행합니다. 제공 형태·라이선스 구성은 견적 구성에 따라 확인합니다. 실행 중에는 DUT 설치·지그 변경 팝업 지시가 표시됩니다.
STEP 2 — 테스터 본체ProxiLAB Quest 등신호의 생성·측정을 수행하는 하드웨어입니다. 카드·리더를 에뮬레이트합니다
STEP 3 — 지그·자동화기준 안테나·프로브·로봇규격이 정하는 기준 지그의 접속이 필수입니다. 접속하지 않으면 스위트를 실행할 수 없습니다. 로봇으로 위치 스윕을 자동화합니다
STEP 4 — 피시험 기기DUT: 카드·단말·모바일 기기개발 중인 제품입니다. 규격 적합성과 상호 운용성을 검증하는 대상입니다

EMVCo Contactless Level 1의 적합성 시험 솔루션입니다. PICC(근접 IC 카드)와 PCD(근접 결합 디바이스, 즉 리더)의 아날로그·디지털 구현을 검증합니다. KEOLABS는 EMVCo의 대상 사양에 대해 qualification을 취득한 테스트 도구·테스트 스위트를 제공하고 있습니다. 적격성의 대상 범위·구성·소프트웨어 버전·qualification 번호는 제품 및 규격 버전마다 확인이 필요합니다. SCRIPTIS™ 테스트 환경과, EMVCo 규격에 엄밀히 준거한 액세서리를 포함하는 완전한 테스트 벤치로 구성됩니다.

무엇을 시험하는가

EMVCo L1의 PICC / PCD를 아날로그·디지털 양면에서 검증합니다. SCRIPTIS™에서 실행합니다.

PICC(카드) 시험PICC Analog / Digital

근접 IC 카드(PICC)의 아날로그·디지털 구현을 결제 애플리케이션용으로 검증합니다. SCRIPTIS의 Analog / Digital 테스트 스위트를 사용합니다.

  • SC-VAL-PICC Analog EMVCo: EMV Contactless Interface v3.2b 준거
  • SC-VAL-PICC Digital EMVCo: EMV Contactless Interface v3.2b 준거
PCD(리더) 시험PCD Analog / Digital

근접 결합 디바이스(PCD, 즉 리더)의 아날로그·디지털 구현을 검증합니다. 단말의 Type Approval에 대응합니다.

  • SC-VAL-PCD Analog EMVCo: Contactless Terminal L1 Type Approval PCD Analog v3.2a
  • SC-VAL-PCD Digital EMVCo: 동일 v3.2a
Reduced Range 단말Reduced Range Terminal

Reduced Range 단말의 아날로그 시험입니다.

  • SC-VAL-RR Terminal Analog EMVCo: Reduced Range PCD L1 Test Guidelines v3.2a
SCRIPTIS™ 실행 환경Test Environment

전 스위트는 SCRIPTIS™에서 실행합니다. 수동 시험의 시각적 보조(visual cues)부터 로봇 연계의 완전 자동 시험까지. 테스트 벤치와 피시험 기기 사이의 통신 로그·트레이스를 완전히 가시화합니다.

  • 수동 시험의 시각적 보조
  • 로봇 연계로 완전 자동 시험
  • 로그·트레이스로 시험 결과를 완전히 가시화
  • EMVCo 인정 시험소에서 사용

가격은 각 테스트 스위트(규격 프로그램)에 붙으며, 실행 UI인 SCRIPTIS™는 동봉됩니다. 각 스위트의 실행에는 대응 지그의 접속이 필수이며, 시험 중에는 DUT 설치·지그 구성 변경(아날로그 시험에서는 안테나 교환 등)의 팝업 지시에 따라 조작합니다.

테스트 케이스 망라 범위(2026-07 버전)

KEOLABS 공개 사양에 근거한 망라 범위입니다. 시험 ID는 EMVCo 테스트 케이스 번호(PCD=v3.2a / PICC=v3.2b)에 대응합니다.

단말(PCD) Analogue — v3.2a

단말(PCD) Analogue — v3.2a
RF 전력TAB111(PCD→PICC 전력 전달) / TAB112(캐리어 주파수) 외
PCD→PICC Type ATA121(t1 타이밍) / TA122(V4→V2 단조 감소) 외
PICC→PCD Type ATA131·TA132(최소 정변조 시의 부하 변조 VS1,pp / VS2,pp) 외
비트 부호화 Type ATA141(송신 비트레이트) / TA142(비트 부호화·비동기화) 외
PCD→PICC Type BTB121(변조 지수) / TB122(하강 시간) 외
PICC→PCD Type BTB131·TB132(부하 변조 VS1,pp / VS2,pp) 외
비트 부호화 Type BTB141(송신 비트레이트) / TB142(동기·부호화·비동기화) 외
PCD IQ 복조TA151(Type A) / TB151(Type B) — IQ Demodulation 검증

단말(PCD) Digital — v3.2a

단말(PCD) Digital — v3.2a
Type ATA001(기본 교환 “single size UID” ·타이밍 계측) / TA002(정상 리무벌) 외
Type BTB000(TR1PUTMIN 사전 시험) / TB001(기본 교환·타이밍 계측) 외

Reduced Range 단말 Analogue — v3.2a + 공식 스코어링 도구

RR L1 Test Guidelines v3.2a에 더해, “EMV Terminal Type Approval Bulletin No. 276(First Edition, April 2024) — Reduced Range Devices Acceptance Criteria” 에 근거한 EMVCo 인정 스코어링 도구를 동봉합니다. 판정 기준의 적용까지 일체로 실시할 수 있습니다.

카드(PICC) Analogue — v3.2b

카드(PICC) Analogue — v3.2b
전원 상태CA112·CA113(Type A의 Power Off / Power On 상태) 외
자계에 대한 영향CAB111(PICC의 자계 영향)
응답성 Type A / BCA121·CA122 / CB121·CB122(최소·최대 자계 강도에서의 응답성) 외
송신 Type A / BCA131·CA132 / CB131·CB132(부하 변조·부반송파 주파수·비트레이트) 외
비트 부호화 Type A / BCA143·CA144 / CB143·CB144(부호화·비동기화·타이밍·비트 경계) 외
성능 사전 검증CA151/CB151 (Type A / B Performance Pre-Verification)

카드(PICC) Digital — v3.2b

카드(PICC) Digital — v3.2b
Type ACA001-003(기본 교환·타이밍 계측) / CA010-012.XY(최소·연장 FDT PCD→PICC) 외
Type BCB001(기본 교환·타이밍 계측) / CB010.xy(FDT 배리에이션) 외
블록 프로토콜CC001.x(EMV CL 폴링 대응) / CC110.x(PCD로부터의 체인 I-Block 수신) 외

Mobile Analogue — v3.2b

PICC Analogue v3.2b를 토대로 “EMV Mobile L1 Test Guidelines v3.2b” 을 적용하는 모바일 기기(스마트폰 등)용 아날로그 스위트입니다. 비표준 폼팩터에는 SC-RF Probe 4를 병용합니다.

테스트 벤치 구성(실제 SKU)

시험 플랫폼·실행 환경

시험 플랫폼·실행 환경
SC-ProxiLAB QuestPICC/PCD/NFC 신호 에뮬레이터(디바이스 특성 평가·프로토콜 적합성)
SCRIPTIS™테스트 실행 환경(PC상, 자동화·로그·트레이스)

EMVCo 기준 액세서리(지그)

EMVCo 기준 액세서리(지그)
SC-EMVCo Test PICC V3.0EMVCo PICC 기준 3개 키트(Class 1을 13.56/16.1MHz, Class 3을 13.56MHz로 조정)
SC-EMVCo Test PCD V3.0EMVCo PCD 기준 안테나 1개
SC-EMVCo KITTest PICC 3종+PCD 안테나+Test PCD용 스탠드+CMR(신호 조정·입출력 전환)
SC-RF Probe 4 V1.5휴대전화·비표준 폼팩터용 RF 프로브
SC-Dongle유연한 동적 라이선스용 동글

계측·증폭·자동화

계측·증폭·자동화
LeCroy HDO6034-B12비트 ADC 오실로스코프(SCRIPTIS 통합, 아날로그 시험 제어)
Bowen 50W 50Ω10-250MHz 가변 이득 RF 앰프(EMVCo 전력 범위, ISO 14443 교번 자계 시험에도)
SC-ROB6x-VS0606축 로봇(EMVCo 가속도 제약 8m/s² 초과에 대응, 동작 공간을 자동 스윕). 시험 사양에 따른 프로브용 서포트 부속. 보호 케이지는 옵션입니다(없는 경우 기계 지침 2006/42/EC 준거 환경에의 통합이 필요)
SC-ROB5x-VP-52435축 로봇(동작 공간을 자동 스윕). 시험 사양에 따른 프로브용 서포트 부속

지원 규격·브랜드

지원 규격
EMVCo

EMVCo L1 적합성(지원은 구성·라이선스에 따라 다릅니다)

실제 장비·실행 화면