EMVCo Contactless Level 1 の適合試験ソリューション。PICC（近接ICカード）と PCD（近接結合デバイス＝リーダ）のアナログ／デジタル実装を検証します。KEOLABS の全プラットフォーム・ソリューションは EMVCo 認定済み。SCRIPTIS™ テスト環境と、EMVCo 規格に厳密準拠したアクセサリを含む完全なテストベンチで構成されます。
何を試験するか
EMVCo L1 の PICC / PCD を、アナログ・デジタルの両面で検証します。SCRIPTIS™ 上で実行します。
近接ICカード（PICC）のアナログ／デジタル実装を、決済アプリ向けに検証。SCRIPTIS の Analog / Digital テストスイートを使用。
- SC-VAL-PICC Analog EMVCo：EMV Contactless Interface v3.2b 準拠
- SC-VAL-PICC Digital EMVCo：EMV Contactless Interface v3.2b 準拠
近接結合デバイス（PCD＝リーダ）のアナログ／デジタル実装を検証。端末の Type Approval に対応。
- SC-VAL-PCD Analog EMVCo：Contactless Terminal L1 Type Approval PCD Analog v3.2a
- SC-VAL-PCD Digital EMVCo：同 v3.2a
Reduced Range 端末のアナログ試験。
- SC-VAL-RR Terminal Analog EMVCo：Reduced Range PCD L1 Test Guidelines v3.2a
全スイートは SCRIPTIS™ 上で実行。手動試験の視覚的補助（visual cues）から、ロボット連携の完全自動試験まで。テストベンチと被試験機器間の通信ログ・トレースを完全に可視化。
- 手動試験の視覚的補助・エイド
- ロボット連携で完全自動試験
- ログ・トレースで試験結果を完全可視化
- EMVCo 認定ラボで使用
テストケース網羅範囲（2026-07 版）
KEOLABS 公開仕様に基づく網羅範囲。試験ID は EMVCo テストケース番号（PCD=v3.2a／PICC=v3.2b）に対応します。
端末（PCD）Analogue — v3.2a
| RF電力 | TAB111（PCD→PICC 電力伝達）／TAB112（キャリア周波数）ほか |
| PCD→PICC Type A | TA121（t1 タイミング）／TA122（V4→V2 単調減少）ほか |
| PICC→PCD Type A | TA131・TA132（最小正変調時の負荷変調 VS1,pp／VS2,pp）ほか |
| ビット符号化 Type A | TA141（送信ビットレート）／TA142（ビット符号化・非同期化）ほか |
| PCD→PICC Type B | TB121（変調指数）／TB122（立下り時間）ほか |
| PICC→PCD Type B | TB131・TB132（負荷変調 VS1,pp／VS2,pp）ほか |
| ビット符号化 Type B | TB141（送信ビットレート）／TB142（同期・符号化・非同期化）ほか |
| PCD IQ復調 | TA151（Type A）／TB151（Type B）— IQ Demodulation 検証 |
端末（PCD）Digital — v3.2a
| Type A | TA001（基本交換〈single size UID〉・タイミング計測）／TA002（正常リムーバル）ほか |
| Type B | TB000（TR1PUTMIN 事前試験）／TB001（基本交換・タイミング計測）ほか |
Reduced Range 端末 Analogue — v3.2a ＋ 公式スコアリングツール
RR L1 Test Guidelines v3.2a に加え、「EMV Terminal Type Approval Bulletin No. 276（First Edition, April 2024）— Reduced Range Devices Acceptance Criteria」に基づく EMVCo 認定スコアリングツールを同梱。判定基準の適用まで一体で実施できます。
カード（PICC）Analogue — v3.2b
| 電源状態 | CA112・CA113（Type A の Power Off／Power On 状態）ほか |
| 磁界への影響 | CAB111（PICC の磁界影響） |
| 応答性 Type A / B | CA121・CA122／CB121・CB122（最小・最大磁界強度での応答性）ほか |
| 送信 Type A / B | CA131・CA132／CB131・CB132（負荷変調・副搬送波周波数・ビットレート）ほか |
| ビット符号化 Type A / B | CA143・CA144／CB143・CB144（符号化・非同期化・タイミング・ビット境界）ほか |
| 性能事前検証 | CA151／CB151（Type A・B Performance Pre-Verification） |
カード（PICC）Digital — v3.2b
| Type A | CA001-003（基本交換・タイミング計測）／CA010-012.XY（最小・延長 FDT PCD→PICC）ほか |
| Type B | CB001（基本交換・タイミング計測）／CB010.xy（FDT バリエーション）ほか |
| ブロックプロトコル | CC001.x（EMV CL ポーリング対応）／CC110.x（PCD からのチェーン I-Block 受信）ほか |
Mobile Analogue — v3.2b
PICC Analogue v3.2b を土台に「EMV Mobile L1 Test Guidelines v3.2b」を適用するモバイル機器（スマートフォン等）向けアナログスイート。非標準フォームファクタには SC-RF Probe 4 を併用します。
テストベンチ構成（実SKU）
試験プラットフォーム・実行環境
| SC-ProxiLAB Quest | PICC/PCD/NFC 信号エミュレータ（デバイス特性評価・プロトコル適合） |
| SCRIPTIS™ | テスト実行環境（PC上、自動化・ログ・トレース） |
EMVCo 基準アクセサリ（治具）
| SC-EMVCo Test PICC V3.0 | EMVCo PICC 基準 3個Kit（Class1を13.56/16.1MHz、Class3を13.56MHzに調整） |
| SC-EMVCo Test PCD V3.0 | EMVCo PCD 基準アンテナ 1個 |
| SC-EMVCo KIT | Test PICC 3種＋PCDアンテナ＋Test PCD用スタンド＋CMR（信号調整・入出力切替） |
| SC-RF Probe 4 V1.5 | 携帯電話・非標準フォームファクタ向けRFプローブ |
| SC-Dongle | 柔軟な動的ライセンス用ドングル |
計測・増幅・自動化
| LeCroy HDO6034-B | 12-bit ADC オシロスコープ（SCRIPTIS統合、アナログ試験制御） |
| Bowen 50W 50Ω | 10-250MHz 可変利得RFアンプ（EMVCo電力範囲、ISO14443交番磁界試験にも） |
| SC-ROB6x-VS060 | 6軸ロボット（EMVCo加速度制約 8m/s²超に対応、動作空間を自動掃引）。試験仕様に応じたプローブ用サポート付属。保護ケージはオプション（無い場合は機械指令 2006/42/EC 準拠環境への組込みが必要） |
| SC-ROB5x-VP-5243 | 5軸ロボット（動作空間を自動掃引）。試験仕様に応じたプローブ用サポート付属 |
対応規格・ブランド
EMVCo L1 適合（対応は構成・ライセンスにより異なります）
実機・実行画面
Mobile 機器の L1 アナログ試験は PICC Analogue v3.2b ＋ EMV Mobile L1 Test Guidelines v3.2b の組合せで実施（Mobile Analogue スイート）。Reduced Range は Bulletin No.276 の受入基準スコアリングまで対応。PICCを試験する時はPCD側の基準を、PCDを試験する時はPICC側の基準を使用します。ロボットは保護ケージなしの場合、Directive 2006/42/EC 準拠の安全環境への統合が必要。テストケースの規格版（v3.2a/b）は EMVCo 更新により変わるため、対象版は見積時に固定します。
導入用途
- 新規開発時の L1 検証立ち上げ
- 構成変更・アップデート後の回帰
- 認証取得に向けた前段の網羅確認
認証との関係
このレイヤーの認証（横断領域）と連携します。認証取得そのものは認証サービスへ導線します。