検証レイヤー · 運用
UAT・回帰
地域/ブランドUAT、回帰、発行検証。本番に載せる前の受け入れ試験。
この層で何を検証するか
認証を通した端末やカードが、実際の市場・プロセッサー・デビットネットワークで正しく受け入れられるかを確かめる層です。認証ツールと実市場のあいだを埋めます。仕様への適合ではなく、運用条件への適合を見ます。
| 確かめたいこと | 該当製品 |
|---|---|
| 地域・ブランド別の取引 UAT を物理カードで行う（接触中心） | B2 EMV テストカードセット |
| 非接触・デュアルIF の取引 UAT、実機ウォレットの受入確認 | Touchless Dual Interface Collection |
| 米国共通デビット AID の選択・ルーティングを端末からレシートまで通しで確認 | USA Debit Test Card Set |
| 8桁BIN 対応を決済アプリ・ホスト・ルーティング・BINデータベースで確認 | 8-Digit BIN Test Card Set |
| EBT など特殊用途の取引 UAT | UAT EBT Card |
| 取引の網羅・回帰を自動実行する | PaytestLab／PaytestHub／PaytestRobot |
物理テストカードの運用で、実務上つまずく点
カードが届いても、次の条件が揃っていないと取引が成立しません。発注前・使用前に確認します。
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| テストBINのホスト対応 | カードが端末で読めても、プロセッサーがテストBINを登録していなければオンライン承認されません。Interac BIN、8桁BIN、Mastercard BIN 2、US Common Debit、DCC海外BIN、Fleet BIN はとくに確認が必要です |
| テストCA公開鍵 | 端末側にブランドのテストCA公開鍵が登録されていないと、SDA／DDA／CDA 関連で取引が失敗します。CA Public Key Index、鍵ロード方法、鍵有効期限、本番鍵との分離を確認します |
| オフラインPINのブロック | 誤ったOffline PINを繰り返すと PIN Try Counter が減少し、恒久的にブロックされる場合があります。正しいPIN・試行回数・再利用可否をカード管理表に記録する運用をお勧めします |
| カード有効期限 | 公開情報には長期有効なカードと旧情報が混在します。出荷時にカードごとの有効期限一覧を取得します |
認証との関係
「テストカードで合格した」ことと「ブランドまたはアクワイアラ認証に合格した」ことは同一ではありません。この層のカードは、正式認証へ進む前の障害除去に有効ですが、認証ツールそのものではありません。正式認証に使用する場合は、Payment Scheme・Acquirer・Processor・Gateway・Certification Laboratory・Terminal Vendor のいずれから承認が必要かをご確認ください。
発行側と端末側の使い分け
同じ「テストカード」でも、目的が異なります。端末構成を検証するカード（ICC Merchant Test Cards）と、取引 UAT のカード（B2）は別物です。この区別があるため、両社の製品が同じ棚に混ざることはありません。
自動化は3層に分かれます
取引試験の自動化は、作成・管理・実行（Hub）・L3 実行（Player）・物理操作（Robot）の3層構成です。単体でも段階導入でも使えます。長時間の回帰試験を人手を介さず実行でき、操作ばらつきによる再現性の問題も解消します。