Keolabs EMVCo L1 基準測試套件
EMVCo Contactless Level 1 的符合性測試方案，驗證 PICC（近距離 IC 卡）與 PCD（近距離耦合裝置，即讀卡機）的模擬與數字實現。KEOLABS 提供已就 EMVCo 物件規範取得適格認證（qualification）的測試工具與測試套件。適格認證的適用範圍、設定、軟體版本與 qualification 編號，需按產品與標準版本逐一確認。整體由 SCRIPTIS™ 測試環境，以及嚴格符合 EMVCo 標準的配件構成完整的測試臺。
測試的整體結構
測試檯由“軟體 → 測試儀 → 治具 → 被測裝置”四個要素構成。下面說明本產品位於其中的哪個位置。
EMVCo Contactless Level 1 的符合性測試方案，驗證 PICC（近距離 IC 卡）與 PCD（近距離耦合裝置，即讀卡機）的模擬與數字實現。KEOLABS 提供已就 EMVCo 物件規範取得適格認證（qualification）的測試工具與測試套件。適格認證的適用範圍、設定、軟體版本與 qualification 編號，需按產品與標準版本逐一確認。整體由 SCRIPTIS™ 測試環境，以及嚴格符合 EMVCo 標準的配件構成完整的測試臺。
測試什麼
從模擬與數字兩方面驗證 EMVCo L1 的 PICC 與 PCD，在 SCRIPTIS™ 上執行。
面向支付應用，驗證近距離 IC 卡（PICC）的模擬與數字實現。使用 SCRIPTIS 的 Analog/Digital 測試套件。
- SC-VAL-PICC Analog EMVCo：符合 EMV Contactless Interface v3.2b
- SC-VAL-PICC Digital EMVCo：符合 EMV Contactless Interface v3.2b
驗證近距離耦合裝置（PCD，即讀卡機）的模擬與數字實現，支援終端的 Type Approval。
- SC-VAL-PCD Analog EMVCo: Contactless Terminal L1 Type Approval PCD Analog v3.2a
- SC-VAL-PCD Digital EMVCo：同為 v3.2a
Reduced Range 終端的模擬測試。
- SC-VAL-RR Terminal Analog EMVCo: Reduced Range PCD L1 Test Guidelines v3.2a
全部套件均在 SCRIPTIS™ 上執行。從手動測試的視覺提示（visual cues），到與機器人聯動的全自動測試。測試臺與被測裝置之間的通訊日誌與追蹤完全可視。
- 手動測試的視覺提示與輔助
- 與機器人聯動實現全自動測試
- 以日誌與追蹤完整呈現測試結果
- 在 EMVCo 認證測試室中使用
計價的是各測試套件（標準程式），執行介面 SCRIPTIS™ 隨附。執行各套件時必須連線對應治具；測試過程中，需按彈出提示放置 DUT 或變更治具設定（模擬測試中如更換天線）。
測試用例覆蓋範圍（2026-07 版）
基於 KEOLABS 公開規格的覆蓋範圍。測試 ID 對應 EMVCo 測試用例編號（PCD＝v3.2a/PICC＝v3.2b）。
終端（PCD)Analogue — v3.2a
| 射頻功率 | TAB111(PCD→PICC 功率傳輸）／TAB112（載波頻率）等 |
|---|---|
| PCD→PICC Type A | TA121(t1 時序）／TA122(V4→V2 單調下降）等 |
| PICC→PCD Type A | TA131/TA132（最小正調製時的負載調製 VS1,pp/VS2,pp）等 |
| 位編碼 Type A | TA141（傳送位速率）／TA142（位編碼與去同步）等 |
| PCD→PICC Type B | TB121（調製指數）／TB122（下降時間）等 |
| PICC→PCD Type B | TB131/TB132（負載調製 VS1,pp/VS2,pp）等 |
| 位編碼 Type B | TB141（傳送位速率）／TB142（同步、編碼與去同步）等 |
| PCD IQ 解調 | TA151(Type A）／TB151(Type B）— IQ 解調驗證 |
終端（PCD)Digital — v3.2a
| Type A | TA001（基本互動〈single size UID〉與時序測量）／TA002（正常移除）等 |
|---|---|
| Type B | TB000(TR1PUTMIN 事前測試）／TB001（基本互動與時序測量）等 |
Reduced Range 終端 Analogue — v3.2a ＋ 官方評分工具
除 RR L1 Test Guidelines v3.2a 外，還隨附依據《EMV Terminal Type Approval Bulletin No. 276（First Edition, April 2024）— Reduced Range Devices Acceptance Criteria》的 EMVCo 認證評分工具，可一併完成判定基準的應用。
卡片（PICC)Analogue — v3.2b
| 供電狀態 | CA112/CA113(Type A 的 Power Off/Power On 狀態）等 |
|---|---|
| 對磁場的影響 | CAB111(PICC 對磁場的影響） |
| 響應性 Type A/B | CA121/CA122/CB121/CB122（最小與最大磁場強度下的響應性）等 |
| 傳送 Type A/B | CA131/CA132/CB131/CB132（負載調製、副載波頻率與位速率）等 |
| 位編碼 Type A/B | CA143/CA144/CB143/CB144（編碼、去同步、時序與位邊界）等 |
| 效能事前驗證 | CA151/CB151 (Type A / B Performance Pre-Verification) |
卡片（PICC)Digital — v3.2b
| Type A | CA001-003（基本互動與時序測量）／CA010-012.XY（最小與延長 FDT PCD→PICC）等 |
|---|---|
| Type B | CB001（基本互動與時序測量）／CB010.xy(FDT 變化）等 |
| 分塊協議 | CC001.x（支援 EMV CL 輪詢）／CC110.x（接收來自 PCD 的鏈式 I-Block）等 |
Mobile Analogue — v3.2b
以 PICC Analogue v3.2b 為基礎，應用《EMV Mobile L1 Test Guidelines v3.2b》的模擬套件，面向移動裝置（智慧手機等）。非標準外形需配合 SC-RF Probe 4 使用。
測試臺設定（實際 SKU）
測試平臺與執行環境
| SC-ProxiLAB Quest | PICC/PCD/NFC 訊號模擬器（裝置特性評估與協議符合性） |
|---|---|
| SCRIPTIS™ | 測試執行環境（在 PC 上，含自動化、日誌與追蹤） |
EMVCo 基準配件（治具）
| SC-EMVCo Test PICC V3.0 | EMVCo PICC 基準 3 件套（Class1 調至 13.56/16.1MHz，Class3 調至 13.56MHz） |
|---|---|
| SC-EMVCo Test PCD V3.0 | EMVCo PCD 基準天線 1 個 |
| SC-EMVCo KIT | Test PICC 3 種＋PCD 天線＋Test PCD 用支架＋CMR（訊號調整與輸入輸出切換） |
| SC-RF Probe 4 V1.5 | 面向手機與非標準外形的射頻探針 |
| SC-Dongle | 用於靈活動態授權的加密狗 |
測量、放大與自動化
| LeCroy HDO6034-B | 12 位 ADC 示波器（整合於 SCRIPTIS，控制模擬測試） |
|---|---|
| Bowen 50W 50Ω | 10-250MHz 可變增益射頻放大器（覆蓋 EMVCo 功率範圍，也可用於 ISO 14443 交變磁場測試） |
| SC-ROB6x-VS060 | 六軸機器人（滿足 EMVCo 超過 8m/s² 的加速度要求，自動掃描工作空間）。隨附按測試規範配套的探針支架。保護罩為選配（無保護罩時須納入符合機械指令 2006/42/EC 的環境） |
| SC-ROB5x-VP-5243 | 五軸機器人（自動掃描工作空間）。隨附按測試規範配套的探針支架 |
支援的標準與品牌
EMVCo L1 符合性（支援範圍因設定與授權而異）