L1 · 物理层与协议
Keolabs 基准天线与治具
KEOLABS 作为测试工具供应商，依据 EMVCo、NFC Forum、ICAO、CEN TS 16794 与 ISO 10373-6 等各标准设计的基准天线与治具。各天线均尽可能忠实于标准的技术要求。它们并非附件，而是规定 DUT 对侧射频环境（耦合条件、物理位置、信号质量与可重现性）的测试构成要素。
测试的整体结构
测试台由“软件 → 测试仪 → 治具 → 被测设备”四个要素构成。下面说明本产品位于其中的哪个位置。
STEP 1 — 测试程序规格测试套件（运行环境：SCRIPTIS™）各规格的测试程序在 SCRIPTIS™ 上运行。提供形式与许可构成依报价配置确认。运行中会弹出放置被测设备与更换治具的提示。
STEP 2 — 测试仪主机ProxiLAB Quest 等生成与测量信号的硬件，可仿真卡片或读卡器
STEP 3 — 治具与自动化基准天线、探针与机器人标准规定的基准治具必须连接。未连接则无法执行套件。可用机器人自动完成位置扫描
STEP 4 — 被测设备DUT：卡片、终端与移动设备开发中的产品，是验证标准符合性与互操作性的对象
规定什么
KEOLABS 作为测试工具供应商，依据 EMVCo、NFC Forum、ICAO、CEN TS 16794 与 ISO 10373-6 等各标准设计的基准天线与治具。各天线均尽可能忠实于标准的技术要求。它们并非附件，而是规定 DUT 对侧射频环境（耦合条件、物理位置、信号质量与可重现性）的测试构成要素。
DUT 对侧的基准环境
基准天线与治具并不是“附件”。被测对象（DUT）对侧的射频环境，是规定耦合条件、物理位置、信号质量与可重现性的测试构成要素。测试 PICC 时使用 PCD 侧的基准，测试 PCD 时使用 PICC 侧的基准。
| 被测对象（DUT） | 基准侧所需的代表性要素 |
|---|---|
| （测试）PICC 与卡片 | PCD 侧的基准：EMVCo Test PCD、ISO PCD Assembly |
| （测试）PCD 与读卡器 | PICC 侧的基准：EMVCo Test PICC、REFPICC（按 Class 区分） |
| （测试）VICC 与 ISO 15693 | REFVICC, PCD Assembly ISO15693 |
| （测试）NFC Poller 与 Listener | 对侧的基准天线：Poller-Listener Kit、NFC Forum Kit |
基准配件与治具（实际 SKU）
按标准划分的基准天线、Assembly、Reference PICC 与校准要素。套件的包含内容与现行 SKU 在下单时确认。
EMVCo 配件
| SC-EMVCo Test PICC V3.0 | EMVCo PICC 3 件套（Class1 调至 13.56/16.1MHz，Class3 调至 13.56MHz） |
|---|---|
| SC-EMVCo Test PCD V3.0 | EMVCo PCD 天线 1 个 |
SC-EMVCo KIT
| SC-EMVCo KIT | PICC 基准 3 种＋PCD 天线＋搭载 Test PCD 的支架（带堆叠器）＋CMR（信号调整与输入输出切换） |
|---|
ISO 卡片用配件（PCD Assembly）
| SC-PCD Assembly -4R7 (ISO PCD Assembly 1) | ISO 10373-6 Test PCD Assembly 1（用于 Class 1-3）。内置 3 种匹配电路（Rext 4.7Ω／0.94Ω／旁路），可自动或手动选择。符合 ISO/IEC 10373-6 |
|---|---|
| SC-PCD Assembly -1R (ISO PCD Assembly 1) | ISO 10373-6 低速 Test PCD Assembly(Rext 1Ω）。用于 L1 ISO 14443(AMF）测试 |
| SC-PCD Assembly -2R7 | ISO 10373-6 Test PCD Assembly 2（用于 Class 4-6）。内置 3 种匹配电路（Rext 2.7Ω／0.54Ω／旁路）。符合 ISO/IEC 10373-6 |
| SC-PCD Assembly ISO15693 | ISO 10373-7 Test VCD Assembly。用于 ISO 15693 实装卡片测试的天线与感应线圈 |
ISO 读卡器用配件（REFPICC/REFVICC）
| SC-REFPICC-CLASS1 | ISO 10373-6 PICC Reference Probe(Class ID1）。用于非接触读卡器测试 |
|---|---|
| SC-REFPICC-KIT-CLASS1-3 | PICC Reference probe Kit (Class 1-3) |
| SC-REFPICC-KIT-CLASS4-6 | PICC Reference probe Kit (Class 4-6) |
| SC-REFVICC | ISO 15693 VICC Reference Probe。用于 ISO 15693 读卡器测试 |
NFC Forum 配件
| SC-Poller-Listener-kit | 用于 NFC 对象与系统测试的 Poller/Listener 基准天线 |
|---|---|
| SC-NFC Forum Kit | Poller/Listener 天线＋校准用测试台＋KEOKLAMP（固定天线与设备） |
其他配件
| Micro Nano Sim Flex KIT | 3FF Micro SIM 探针 4 种＋4FF Nano SIM 探针 4 种＋Nano SIM R1 超长版 |
|---|---|
| Inter-connection Cables | 50cm/100cm SMA-SMA 平台连接电缆 |
| SC-RF Probe 4 V1.3 | 面向手机与非标准外形的射频探针 |
支持的标准与品牌
支持的标准
各标准的基准治具（支持范围因配置与许可而异）
运行注意事项
天线忠实于各标准（EMVCo/NFC Forum/ICAO/CEN TS 16794/ISO 10373-6）的技术要求设计。测试 PICC 时使用 PCD 侧的基准，测试 PCD 时使用 PICC 侧的基准。