验证层次 · L1
物理层与协议
13.56MHz 的射频物理层。EMVCo L1 同时包含 Analog（物理、电气／无线）与 Digital（协议编码），是信号链的入口。
职责范围：接口（电气／无线）EMVCo L1 同时包含 Analog（物理层）与 Digital（协议编码）两者。NFC Forum 分为 Analog / Digital Protocol / LLCP / SNEP，ISO 分为 10373-6（近距离）与 10373-7（邻近），各标准的层结构不同。
与本层相关的标准
本层验证什么
EMVCo Level 1 同时包含 Analog（物理、电气／无线）与 Digital（协议编码）。想确认哪一侧，所需的设备与治具就不同。
| 想确认的内容 | 测试类型 | 对应产品 |
|---|---|---|
| 磁场强度、调制指数、波形、负载调制幅度、时序 | Analog | EMVCo L1 符合性测试套件/ProxiLAB Quest |
| 帧、状态迁移、防冲突、RATS/ATS、FDT | Digital | EMVCo L1 符合性测试套件 |
| NFC Forum 中 Poller/Listener 双向的符合性 | Analog/Digital/LLCP/SNEP | NFC Forum 测试套件 |
| 实通信的抓取与波形层面的原因分析 | 分析（非符合性测试） | ProxiSPY Quest/NomadLAB |
各标准的层结构不同
“L1”所指的范围因标准组织而异。不先确定对象标准，就无法确定所需的套件与治具。
| 标准 | 本层包含的内容 |
|---|---|
| EMVCo Contactless | 同时包含 Analog 与 Digital。版本分为终端侧 v3.2a 与卡片侧 v3.2b |
| NFC Forum | Analog/Digital Protocol/LLCP/SNEP，Poller 与 Listener 双向 |
| ISO/IEC 10373-6（近距离）／-7（邻近） | 针对 ISO/IEC 14443 与 15693 的测试方法。判定基准由被引用的标准规定 |
版本会修订。例如 ISO/IEC 10373-6 于 2025 年发布了 Edition 5，其中修改了 PICC 发送测试方法（变更点说明）。适用版本在报价时固定。
DUT 的对侧需要“基准环境”
本层的测试，仅有被测设备无法成立。测试 PICC 时使用 PCD 侧的基准环境，测试 PCD 时使用 PICC 侧的基准环境。基准天线、Assembly 与 Reference PICC 并非附件，而是规定耦合条件、物理位置、信号质量与可重现性的测试构成要素（基准天线与治具).
位置的全覆盖无法靠人工重现
EMVCo 要求在整个工作空间内覆盖各个位置。用手移动卡片时，位置的偏差会直接变成结果的偏差。定位机器人可自动完成扫描，并满足 EMVCo 的加速度要求（超过 8 m/s²）。若不配保护罩，则须纳入符合机械指令 2006/42/EC 的安全环境。
符合性测试与取得认证是不同的工序
本层的工具所进行的是符合性测试，并非认证本身。正式的 Type Approval 由认证测试实验室实施，Letter of Approval 由 EMVCo 或相应的 Payment System 发放（认证测试实验室）。开发阶段越是使用与认证测试实验室同系统的测试平台，测试条件的差异就越小。