Positive ONE Group 綜合站點前往綜合站點
ZH-HANT繁體中文
營運 · UAT 與迴歸

B2 8-Digit BIN Test Card Set

用於確認 8 位 BIN 支援情況的 8 張測試卡套裝。在支付應用、主機、路由與 BIN 資料庫各層,驗證是否仍存在以 6 位 BIN 為前提的實現。

廠商 B2 標準 EMV · 8-Digit BIN 測試卡

要解決的驗證課題

以往有大量實現將前 6 位視為 BIN/IIN,但現在需要支援 8 位 BIN。本套裝面向支付應用、主機、路由與 BIN 資料庫的整合測試,不屬於 EMV 核心測試。

套裝構成

套裝構成
專案內容
張數8 張
物件品牌以 Visa/Mastercard/Maestro 為主,涵蓋多個地區與貨幣的 8 位 BIN 設定

可發現的實現問題

可發現的實現問題
物件典型問題
POS 應用僅按 6 位固定判定品牌與卡片種類
主機BIN 表尚未適配 8 位
路由錯投至舊的 BIN 範圍
DCC國家與貨幣的判定仍以 6 位 BIN 為前提
小票BIN 掩碼範圍有誤
欺詐檢測6 位規則與 8 位規則衝突
Loyalty基於 BIN 的權益判定有誤
Token 處理FPAN/DPAN 分類表不完整
報告Issuer/Product 分類有誤

使用前,需要確認物件處理機構是否支援該測試 BIN。

與認證層級的關係

與認證層級的關係
分類定位
EMV Level 1 / Level 2並非正式認證工具
EMV Level 3支援 UAT、事前測試與迴歸測試
收單機構認證在收單機構指定並批准的情況下使用

“用 B2 卡透過了測試”與“透過了品牌或收單機構的認證”並不相同。

使用前與下單前的確認事項

使用前與下單前的確認事項
專案內容
主機對測試 BIN 的支援即使終端能讀取卡片,若處理機構未登記測試 BIN,也無法完成聯機授權。使用前請確認物件處理機構的支援情況
測試 CA 公鑰若終端未載入品牌的測試 CA 公鑰,SDA/DDA/CDA 相關的交易將失敗
離線 PIN 被鎖定反覆輸入錯誤的離線 PIN 會使 PIN Try Counter 遞減,並可能被永久鎖定
卡片有效期與交付清單發貨時取得逐卡的有效期清單與收錄明細
設定的固定性若需要修改任意標籤,請考慮 Custom Test Card 或 ICCSimDev

選型指南 — B2 測試卡中哪一款合適

B2 的卡片產品,按“要確認哪種介面、哪種市場條件”來選擇。

選型指南 — B2 測試卡中哪一款合適
產品如果是這樣的需求
EMV 測試卡套裝希望用實體卡按地區與品牌進行交易 UAT(以接觸為主)
Touchless Dual IF Collection希望進行非接觸與雙介面的交易 UAT
USA Debit Test Card Set希望驗證美國通用借記 AID 的選擇與路由
★ 8 位 BIN 測試卡套裝(本頁)希望在終端、主機與路由中確認 8 位 BIN 的支援情況
UAT EBT 卡需要 EBT 等特殊用途的交易 UAT
磁條模擬器希望模擬磁軌行為,或用 SmartStripe 探針驗證

匯入用途

  • 新開發專案中營運驗證的啟動
  • 設定變更與更新後的迴歸
  • 面向取得認證的前期全面確認

與認證的關係

用於 UAT 與事前測試。如需取得認證,我們會介紹跨層的認證支援:由認可測試室實施正式符合性測試,並由 EMVCo 或各支付品牌發放批准(LoA 等)。