B2 Touchless Dual Interface Collection
非接触/デュアルインターフェースの取引UAT用カードコレクションです。実機スマートフォンを含む Touchless Test Suite 構成では、Apple Pay 等のモバイルウォレット受入試験にも対応します。
解決する検証課題
非接触POSの開発・UAT・トレーニング・デモに使用します。カードに加えて実機スマートフォンを用いる構成では、店頭でのウォレット受入動作を確認できます。
収録カード明細
各カードのブランド・AID・インターフェース・取引条件・用途区分を明示します。エンジニアが購入前に「どのシナリオを再現できるか」を判断できるように。
| No. | ブランド / AID | IF | 取引条件 | 用途区分 |
|---|---|---|---|---|
| 00 | Visa | 接触/非接触 | 代表シナリオ | 取引UAT |
| 01 | Mastercard | 接触/非接触 | 代表シナリオ | 取引UAT |
| 02 | Amex | 接触/非接触 | 代表シナリオ | 取引UAT |
| 03 | Discover | 接触/非接触 | 代表シナリオ | 取引UAT |
| 04 | UnionPay | 接触/非接触 | 代表シナリオ | 取引UAT |
| 05 | Interac | 接触/非接触 | 代表シナリオ | 取引UAT |
| 06 | JCB | 接触/非接触 | 代表シナリオ | 取引UAT |
地域・ブランド・IF
地域(USA/EUR/UK/Canada)・ブランド・接触/非接触/デュアルで絞り込み。交換用セットもご用意します。
Touchless Test Suite の構成
非接触カードだけでなく、実際のスマートフォンを使ってモバイルウォレット受入を試験するキットです。
| 区分 | 内容 |
|---|---|
| 実機 | Apple iPhone/Samsung Galaxy(静的なデバイステストアカウントを設定) |
| ウォレット | Apple Pay テストアカウント/Samsung・Android 側モバイル決済プロファイル |
| ブランド | Visa/Mastercard/American Express/Discover/Mastercard CTT・M-TIP系プロファイル |
| カード | B2 Touchless Dual Interface カードセット |
確認できること
| 用途 | 確認内容 |
|---|---|
| NFC受入 | スマートフォンのタップ位置、RF感度 |
| Wallet表示 | Apple Pay 等を端末が正しく処理するか |
| CDCVM | Consumer Device CVM の認識 |
| DPAN | Device PAN のマスキング・ルーティング |
| Receipt | ブランド名、末尾番号、Wallet 表示 |
| Regression/Training | POS更新後のモバイル決済確認、店舗スタッフのウォレット操作訓練 |
本キットの対象外
モバイルウォレット受入側のUAT・回帰試験キットです。次の試験を行う製品ではありません。
| 対象外の試験 |
|---|
| Wallet へのカード Provisioning/Token Requestor 登録 |
| VTS/MDES 等の TSP 接続、Device Binding、Token Lifecycle(Suspend/Resume/Delete) |
| Wallet アプリのセキュリティ認証、OEM Wallet 正式認定 |
| NFC アナログ Level 1 測定、完全なブランド Level 3 認証 |
掲載されるスマートフォン型式は例示であり、メーカーは同等機種への置換権を留保しています。機種を固定した検証が必要な場合は、注文書上で機種を特定してください。また Dual Interface Collection(10枚構成)については、公開情報にブランド一覧と収録カード一覧の不整合(UnionPay/JCB の記載差異)があるため、正確なカード型式、UnionPay・JCB の有無、US Debit カードのAID、有効期限、EMV Contactless のみか MSD を含むか、接触/非接触で同一PANかを、ご発注前に確認します。
ご使用前・ご発注前の確認事項
物理テストカードの運用では、次の点が実務上の障害になりやすいため事前に確認します。
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| テストBINのホスト対応 | カードが端末で読めても、プロセッサーがテストBINを登録していなければオンライン承認されません。Interac BIN、8桁BIN、Mastercard BIN 2、US Common Debit、DCC海外BIN、Fleet BIN、Processor専用BIN はとくに確認が必要です |
| テストCA公開鍵 | 端末側にブランドのテストCA公開鍵が登録されていないと、SDA/DDA/CDA 関連で取引が失敗します。CA Public Key Index、鍵ロード方法、鍵有効期限、本番鍵との分離をご確認ください |
| オフラインPINのブロック | 一部カードは、誤ったOffline PINを繰り返すと実際に PIN Try Counter が減少し、恒久的にブロックされます。正しいPIN・試行回数・再利用可否をカード管理表に記録する運用をお勧めします |
| カード有効期限 | 公開情報には長期有効なカードと旧情報が混在します。出荷時にカードごとの有効期限一覧を取得します |
| プロファイルの固定性 | B2の標準カードは固定プロファイルです。任意のタグ・PAN・AIP・AFL・CVM List・IAD を変更する必要がある場合は、Custom Test Card または ICCSimDev、ICCSimTMat のプログラマブルカード等をご検討ください |
| 納入BOM | ストア表示と製品移行情報が同期していない場合があるため、型番・現行性・収録カードの内訳は見積時に確定します |
認証レベルとの関係
B2 の固定カードセットは、正式認証へ進む前の障害除去に有効です。認証ツールそのものではありません。
| 区分 | 位置付け |
|---|---|
| EMV Level 1 | RF・電気・プロトコル認証装置ではありません |
| EMV Level 2 | カーネルの正式認証ツールではありません |
| EMV Level 3 | UAT・事前試験・回帰試験を支援します |
| アクワイアラ認証 | アクワイアラが指定・承認した場合に使用します |
| トレーニング | 適します |
「B2カードでテストに合格した」ことと「ブランドまたはアクワイアラ認証に合格した」ことは同一ではありません。正式認証に使用する場合は、Payment Scheme、Acquirer、Processor、Gateway、Certification Laboratory、Terminal Vendor のいずれから承認が必要かをご確認ください。
3社の役割の違い
Barnes、ICC Solutions、B2 は競合ではなく、検証する対象が異なります。
| 製品 | 主な検証対象 | 強み |
|---|---|---|
| Barnes CPT/CAT | 発行カード内のEMVデータ、証明書、暗号、パーソナライゼーション | 発行前カード検証(PVT) |
| ICC Solutions TMat | POS/ATM の L2/L3 テストケース | ブランド認証、カードシミュレーション |
| ICCSimDev | 独自カードスクリプト | 異常カード、独自APDU、ネガティブ試験 |
| ICC Merchant Cards | 店舗の簡易確認 | 教育、Confidence Test |
| B2 UAT Cards | 地域・プロセッサー固有の端末/ホスト統合 | US Debit、Interac、DCC、8桁BIN |
| B2 Touchless | 実スマートフォン・ウォレット受入 | Apple Pay 等の現場試験 |
| B2 Magstripe Simulator | 磁気カード処理 | Fleet、Gift、Loyalty、DCC |
| PaytestLab | POS/ECR 試験の自動化 | ロボット、プローブ、統合管理 |
Barnes は「発行するカードが正しく作られているか」、ICC Solutions は「端末がブランド仕様どおり動くか」、B2 は「実際の市場・プロセッサー・デビットネットワークで正しく受け入れられるか」を検証します。B2 は認証ツールと実市場UATの間を埋める製品群です。
選定ガイド — B2 テストカードのどれが合うか
B2のカード製品は「どのインターフェースの取引を確認するか」で選びます。
| 製品 | こういう検討なら |
|---|---|
| EMVテストカードセット | 地域・ブランド別の取引UATを物理カードで行いたい(接触中心) |
| ★ Touchless Dual IF Collection(本ページ) | 非接触・デュアルIFの取引UATを行いたい |
| UAT EBTカード | EBTなど特殊用途の取引UATが必要 |
| 磁気シミュレータ | 磁気トラックの挙動をシミュレート/SmartStripeプローブで検証したい |
| USA Debit Test Card Set | 米国共通デビットAIDの選択・ルーティングを検証したい |
| 8-Digit BIN Test Card Set | 8桁BIN対応を端末・ホスト・ルーティングで確認したい |
導入用途
- 新規開発時の 運用 検証立ち上げ
- 構成変更・アップデート後の回帰
- 認証取得に向けた前段の網羅確認
認証との関係
適合試験用。認証取得が必要な場合は横断の認証サービスをご案内します。
