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運用 · UAT・回帰

B2 Touchless Dual Interface Collection

非接触/デュアルインターフェースの取引UAT用カードコレクションです。実機スマートフォンを含む Touchless Test Suite 構成では、Apple Pay 等のモバイルウォレット受入試験にも対応します。

ベンダー B2 規格 EMV Contactless テストカード

解決する検証課題

非接触POSの開発・UAT・トレーニング・デモに使用します。カードに加えて実機スマートフォンを用いる構成では、店頭でのウォレット受入動作を確認できます。

収録カード明細

各カードのブランド・AID・インターフェース・取引条件・用途区分を明示します。エンジニアが購入前に「どのシナリオを再現できるか」を判断できるように。

No.ブランド / AIDIF取引条件用途区分
00Visa接触/非接触代表シナリオ取引UAT
01Mastercard接触/非接触代表シナリオ取引UAT
02Amex接触/非接触代表シナリオ取引UAT
03Discover接触/非接触代表シナリオ取引UAT
04UnionPay接触/非接触代表シナリオ取引UAT
05Interac接触/非接触代表シナリオ取引UAT
06JCB接触/非接触代表シナリオ取引UAT

地域・ブランド・IF

地域(USA/EUR/UK/Canada)・ブランド・接触/非接触/デュアルで絞り込み。交換用セットもご用意します。

Touchless Test Suite の構成

非接触カードだけでなく、実際のスマートフォンを使ってモバイルウォレット受入を試験するキットです。

区分内容
実機Apple iPhone/Samsung Galaxy(静的なデバイステストアカウントを設定)
ウォレットApple Pay テストアカウント/Samsung・Android 側モバイル決済プロファイル
ブランドVisa/Mastercard/American Express/Discover/Mastercard CTT・M-TIP系プロファイル
カードB2 Touchless Dual Interface カードセット

確認できること

用途確認内容
NFC受入スマートフォンのタップ位置、RF感度
Wallet表示Apple Pay 等を端末が正しく処理するか
CDCVMConsumer Device CVM の認識
DPANDevice PAN のマスキング・ルーティング
Receiptブランド名、末尾番号、Wallet 表示
Regression/TrainingPOS更新後のモバイル決済確認、店舗スタッフのウォレット操作訓練

本キットの対象外

モバイルウォレット受入側のUAT・回帰試験キットです。次の試験を行う製品ではありません。

対象外の試験
Wallet へのカード Provisioning/Token Requestor 登録
VTS/MDES 等の TSP 接続、Device Binding、Token Lifecycle(Suspend/Resume/Delete)
Wallet アプリのセキュリティ認証、OEM Wallet 正式認定
NFC アナログ Level 1 測定、完全なブランド Level 3 認証

掲載されるスマートフォン型式は例示であり、メーカーは同等機種への置換権を留保しています。機種を固定した検証が必要な場合は、注文書上で機種を特定してください。また Dual Interface Collection(10枚構成)については、公開情報にブランド一覧と収録カード一覧の不整合(UnionPay/JCB の記載差異)があるため、正確なカード型式、UnionPay・JCB の有無、US Debit カードのAID、有効期限、EMV Contactless のみか MSD を含むか、接触/非接触で同一PANかを、ご発注前に確認します。

ご使用前・ご発注前の確認事項

物理テストカードの運用では、次の点が実務上の障害になりやすいため事前に確認します。

項目内容
テストBINのホスト対応カードが端末で読めても、プロセッサーがテストBINを登録していなければオンライン承認されません。Interac BIN、8桁BIN、Mastercard BIN 2、US Common Debit、DCC海外BIN、Fleet BIN、Processor専用BIN はとくに確認が必要です
テストCA公開鍵端末側にブランドのテストCA公開鍵が登録されていないと、SDA/DDA/CDA 関連で取引が失敗します。CA Public Key Index、鍵ロード方法、鍵有効期限、本番鍵との分離をご確認ください
オフラインPINのブロック一部カードは、誤ったOffline PINを繰り返すと実際に PIN Try Counter が減少し、恒久的にブロックされます。正しいPIN・試行回数・再利用可否をカード管理表に記録する運用をお勧めします
カード有効期限公開情報には長期有効なカードと旧情報が混在します。出荷時にカードごとの有効期限一覧を取得します
プロファイルの固定性B2の標準カードは固定プロファイルです。任意のタグ・PAN・AIP・AFL・CVM List・IAD を変更する必要がある場合は、Custom Test Card または ICCSimDevICCSimTMat のプログラマブルカード等をご検討ください
納入BOMストア表示と製品移行情報が同期していない場合があるため、型番・現行性・収録カードの内訳は見積時に確定します

認証レベルとの関係

B2 の固定カードセットは、正式認証へ進む前の障害除去に有効です。認証ツールそのものではありません。

区分位置付け
EMV Level 1RF・電気・プロトコル認証装置ではありません
EMV Level 2カーネルの正式認証ツールではありません
EMV Level 3UAT・事前試験・回帰試験を支援します
アクワイアラ認証アクワイアラが指定・承認した場合に使用します
トレーニング適します

「B2カードでテストに合格した」ことと「ブランドまたはアクワイアラ認証に合格した」ことは同一ではありません。正式認証に使用する場合は、Payment Scheme、Acquirer、Processor、Gateway、Certification Laboratory、Terminal Vendor のいずれから承認が必要かをご確認ください。

3社の役割の違い

Barnes、ICC Solutions、B2 は競合ではなく、検証する対象が異なります。

製品主な検証対象強み
Barnes CPT/CAT発行カード内のEMVデータ、証明書、暗号、パーソナライゼーション発行前カード検証(PVT)
ICC Solutions TMatPOS/ATM の L2/L3 テストケースブランド認証、カードシミュレーション
ICCSimDev独自カードスクリプト異常カード、独自APDU、ネガティブ試験
ICC Merchant Cards店舗の簡易確認教育、Confidence Test
B2 UAT Cards地域・プロセッサー固有の端末/ホスト統合US Debit、Interac、DCC、8桁BIN
B2 Touchless実スマートフォン・ウォレット受入Apple Pay 等の現場試験
B2 Magstripe Simulator磁気カード処理Fleet、Gift、Loyalty、DCC
PaytestLabPOS/ECR 試験の自動化ロボット、プローブ、統合管理

Barnes は「発行するカードが正しく作られているか」、ICC Solutions は「端末がブランド仕様どおり動くか」、B2 は「実際の市場・プロセッサー・デビットネットワークで正しく受け入れられるか」を検証します。B2 は認証ツールと実市場UATの間を埋める製品群です。

選定ガイド — B2 テストカードのどれが合うか

B2のカード製品は「どのインターフェースの取引を確認するか」で選びます。

製品こういう検討なら
EMVテストカードセット地域・ブランド別の取引UATを物理カードで行いたい(接触中心)
★ Touchless Dual IF Collection(本ページ)非接触・デュアルIFの取引UATを行いたい
UAT EBTカードEBTなど特殊用途の取引UATが必要
磁気シミュレータ磁気トラックの挙動をシミュレート/SmartStripeプローブで検証したい
USA Debit Test Card Set米国共通デビットAIDの選択・ルーティングを検証したい
8-Digit BIN Test Card Set8桁BIN対応を端末・ホスト・ルーティングで確認したい

導入用途

  • 新規開発時の 運用 検証立ち上げ
  • 構成変更・アップデート後の回帰
  • 認証取得に向けた前段の網羅確認

認証との関係

適合試験用。認証取得が必要な場合は横断の認証サービスをご案内します。