国際的な ePassport・eID・電子運転免許（eDL）の適合性を検証する、既製の試験ソリューション。共通の土台（ISO/IEC 10373-6 のアナログ／デジタル機能試験）の上に、文書ごとに異なるアプリケーション層（認証規格）のテストスイートを組み合わせます。全スイートは SCRIPTIS™ 上で実行します。
共通の土台と、文書別のアプリケーション層
土台（物理・プロトコル）は共通。文書ごとに認証規格＝アプリケーション層が異なります。
全文書に共通する、13.56MHz 非接触のアナログ／デジタル機能試験。ISO/IEC 10373-6（ISO14443）に基づき、PICC（カード）と PCD（リーダ）を検証。ProxiLAB Quest ＋ SCRIPTIS™ が土台です。
- ISO/IEC 10373-6：アナログ／プロトコルレベルの機能検証
- PICC（カード）／PCD（リーダ）双方に対応
- ProxiLAB Quest（信号エミュレータ）＋ SCRIPTIS™（実行環境）
ISO/IEC 18745-2（ICAO）のアナログ＆プロトコル、ICAO part 3 + BSI TR-03105 part 3.2（アプリ層）、eMRTD Part 4（審査システム）。ePassportと国境管理の耐久性・信頼性・相互運用性の基盤。
- SC-VAL-PICC Analog/Digital ISO14443/ISO18745-2（ICAO）：eMRTD PICC 試験
- SC-VAL-PCD Analog/Digital ISO14443：eMRTD リーダ（PCD）試験
- SC-VAL-PICC Application eMRTD (ICAO)：ICAO TR RF/Protocol Part 3
ISO/IEC 10373-6・7816 のアナログ／デジタル機能に加え、IAS-ECC（欧州市民カード）、BSI TR-03105 part 3.3（EAC 2.0）のOS層試験。
- SC-VAL-PICC Analog/Digital ISO 14443：ISO 10373-6 試験
- SC-VAL-PICC-Application IAS ECC：eIDカードのIAS-ECCアプリ試験
- SC-VAL-PICC-Application EAC V2：EAC V2 アプリ試験
共通の土台に加え、ISO/IEC 18013-4 の国際試験仕様に基づくアプリケーション層スイート。
- SC-VAL-PICC Analog/Digital ISO 14443：ISO 10373-6 試験
- SC-VAL-PICC Application IDL：ISO 18013 アプリ試験（eDLカード）
テストケース網羅範囲（2026-07 版）
KEOLABS 公開仕様に基づく網羅範囲。番号は各規格の条項・シナリオ番号に対応します。
ePassport：PICC Analog（ISO/IEC 18745-2:2020・10373-6:2016）
| §5.2.3 | ISO14443-1 交番磁界試験（Alternating magnetic field） |
| §5.3.1 | eMRTD 送信（106kbps・1.7M・3.4M・6.8Mbps で実施） |
| §5.3.2 | 動作磁界強度（106k〜847kbps・1.7M〜6.8Mbps の全レートで実施） |
| §5.3.3 | eMRTD 受信（106k〜847kbps・1.7M〜6.8Mbps の全レートで実施） |
| §5.3.5 | eMRTD 最大負荷効果（Maximum loading effect） |
| §7.2.3 | eMRTD EMD レベル・low EMD time 試験（106kbps） |
ePassport：PICC Digital（ISO/IEC 18745-2:2020・10373-6:2016）
ISO/IEC 18745-2 が定めるコマンドシーケンス「Plain」「BAC（Basic Access Control）」「EAC（Extended Access Control）」「PACE（Password Authenticated Connection Establishment）＋AA（Active Authentication）オプション」に対応。KEOLABS はこれらのシナリオを個別テストスクリプトに分割して提供します。
| Type A 初期化 | §G.3.2 Polling／§G.3.3 状態遷移／§G.3.4 アンチコリジョン／§G.3.5 RATS／§G.3.6 PPS／§G.3.7 FSD |
| Type B 初期化 | §G.4.2 Polling／§G.4.3 PICC受信（G.22）／§G.4.4 状態遷移／§G.4.5 アンチコリジョン（G.28）／§G.4.6 ATTRIB／§G.4.7 最大フレームサイズ（G.31） |
| 論理動作（A/B） | §G.5.2 ISO14443-4 シナリオ応答／§G.5.3 誤り検出／§G.5.4 CID／§G.5.5 NAD／§G.5.6 S(PARAMETERS) |
ePassport：アプリケーション eMRTD（ICAO Part 3 v3.00・2023年4月）
ICAO「RF Protocol and Application Test Standard for eMRTD — Part 3: Application Protocol and Logical Data Structure」Version 3.00 準拠。ISO7816 コマンド層（Layer 6）と LDS（Layer 7）を網羅します。
| Layer 6：セキュリティ・コマンド | SelectApplication／BAC 保護のセキュリティ条件・Basic Access Control／保護下の SelectFile・ReadBinary／EAC 保護のセキュリティ条件／Chip Authentication／証明書検証／Terminal Authentication／実効アクセス条件／更新メカニズム・移行ポリシー／PACE 保護のセキュリティ条件・PACE／EF.CardAccess の Select・Read／Active Authentication／EF.CardSecurity・EF.ATR/Info・EF.DIR の Select・Read |
| Layer 7：LDS（論理データ構造） | EF.COM／DG1／DG2／SOD／DG14／EF.CVCA／DG3／DG4／EF.CardAccess／DG15／EF.CardSecurity／EF.ATR/Info／EF.DIR の各 LDS オブジェクト試験 |
eID・eDL：PICC Analog／Digital（ISO/IEC 10373-6:2025）
eID・eDL の土台は最新の ISO/IEC 10373-6:2025（Edition 5）に準拠。ePassport 側（:2016 基準）に対して、以下のケースが追加されています。
| Analog §6.2.1／§7.2.1-7.2.6 | 交番磁界／PICC送信／PICC EMD・low EMD time（VHBR非対応）／PICC受信／共振周波数／最大負荷効果／動作磁界強度 |
| Digital 追加分（:2025） | §G.3.8 FDT PICC→PCD・SFGT／§G.3.9 PICC ビットレート能力／§G.4.8 TR2・SFGT／§G.5.7 Type A・B 両対応 PICC |
eID・eDL：アプリケーション層スイート
| IAS-ECC（eID） | GIXEL 策定の Identification Authentification Signature – European Citizen Card（旧称 IAS v2）。CEN TS 15480／prEN 14890-1・-2:2006／ISO 7816 シリーズ／EAC V1.11 が基盤 |
| EAC V2（eID） | BSI TR-03105 Part 3.3「Test plan for eID-Cards with Advanced Security Mechanisms」準拠 |
| ISO 18013-4（eDL） | ISO/IEC 18013-4:2019（ISO準拠運転免許 Part 4: Test Methods）＋ ISO/IEC DTR 19446（欧州運転免許アプリケーションプロファイル） |
接触IF：ICC／Terminal Level 1（ISO/IEC 10373-3）
| ICC Level 1（カード） | ISO 10373-3に基づく接触スマートカード試験。プロトコル処理（T=0・T=1）、APDU交換、タイミングを検証し、ISO 7816への適合を確認 |
| Terminal Level 1（リーダー） | ISO 10373-3に基づくリーダー試験。パワーアップ・リセット・通信・プロトコルのISO 7816適合を検証 |
テストベンチ構成（実SKU）
実行環境・プラットフォーム
| SC-ProxiLAB Quest | PICC/PCD/NFC 信号エミュレータ（特性評価・プロトコル適合） |
| SCRIPTIS™ | テスト実行環境（PC上、自動化・ログ・トレース） |
ISO アクセサリ（治具）
| SC-ISO PCD Assembly 1 v2 | ISO 10373-6 Test PCD Assembly 1。Class1-3用オールインワン。整合網3種（Rext 4.7/0.94Ω＋バイパス）自動/手動切替。ISO 10373-6:2020準拠 |
| SC-ISO PCD Assembly 2 v2 | ISO 10373-6 Test PCD Assembly 2。Class4-6用。整合網3種（Rext 2.7/0.54Ω＋バイパス）。ISO 10373-6:2020準拠 |
| SC-REFPICC-CLASS1 | ISO 10373-6 PICC Reference Probe（Class ID1） |
| SC-REFPICC-KIT-CLASS1-3 | PICC Reference probe Kit（Class 1-3） |
| SC-RF Probe 4 V1.5 / SC-Dongle | 携帯・非標準フォーム向けプローブ／柔軟ライセンス用ドングル |
計測
| LeCroy HDO6034-B | 12-bit ADC オシロ（SCRIPTIS統合、アナログ試験制御） |
| Bowen 50W 50Ω | 10-250MHz RFアンプ（EMVCo電力範囲、ISO14443交番磁界試験にも） |
実機写真
対応規格・ブランド
ICAO/ISO ID文書（対応は構成・ライセンスにより異なります）
土台は全文書共通（ISO 10373-6 の Analog/Digital）。文書ごとにアプリケーション層＝認証規格が異なります（ePassport=ICAO/BSI、eID=IAS-ECC/EAC、eDL=ISO 18013）。PICCを試験する時はPCD側、PCDを試験する時はPICC側の基準を使用。規格版・現行SKUは見積時に確定します。
導入用途
- 新規開発時の L1 検証立ち上げ
- 構成変更・アップデート後の回帰
- 認証取得に向けた前段の網羅確認
認証との関係
このレイヤーの認証（横断領域）と連携します。認証取得そのものは認証サービスへ導線します。